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| 标准编号：SJ/T 10167-1991 |
| 标准名称：电子设备密封结构试验方法 |
| 标准定价：￥15.0元 |
 
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| 英文名称： |
Test methods of densification structure for electronic equipments |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L01技术管理
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| 发布日期： |
1991-04-02 |
| 实施日期： |
1991-07-01
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| 页数： |
15页 |
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