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识别卡测试方法第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备

标准编号：GB/T 17554.3-2006	标准状态：现行

标准价格：86.0 元	客户评分：

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标准简介

本标准规定了符合GB/T14916-2006所定义识别卡特性的一些测试方法，本部分定义了带触点的集成电路卡的测试方法。


英文名称：	Identification cards - Test methods Part 3: Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface devices
中标分类：	电子元器件与信息技术>>计算机>>L64数据媒体
ICS分类：	信息技术、办公机械设备>>信息技术应用>>35.240.15识别卡和有关装置
采标情况：	MOD ISO/IEC 10373-3:2001
发布部门：	国家标准化管理委员会
发布日期：	2006-03-14
实施日期：	2006-07-01
首发日期：	2006-03-14
提出单位：	中华人民共和国信息产业部
归口单位：	全国信息技术标准化技术委员会
主管部门：	国家标准化管理委员会
起草单位：	中国电子技术标准化研究所
起草人：	冯敬、蔡怀忠、耿力、金倩、刘华茂
计划单号：	20010189-T-339
页数：	51页
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	2006-07-01
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前言

GB/T17554《识别卡测试方法》拟分为7个部分:
-第1部分:一般特性测试
-第2部分:磁条卡
-第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备
-第4部分:无触点集成电路卡
-第5部分:光记忆卡
-第6部分:接近式卡
-第7部分:邻近式卡
本部分为GB/T17554的第3部分。修改采用国际标准ISO/IEC10373-3:2001《识别卡测试方法第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备})(英文版)。
本部分与ISO/IEC10373-3:2001相比,增加和修改了下列内容:
a)增加了4.6.2.2参数定义;
b)附录A中增加了A.1.2点压力测试,:
c)附录A因增加A.1.2,其编号作了编辑性修改。
根据新版识别卡带触点的集成电路卡物理特性标准做了以上修改。
本部分的附录A是资料性附录。
本部分由中华人民共和国信息产业部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究所归口。
本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所。
本部分主要起草人:冯敬、蔡怀忠、耿力、金倩、刘华茂。

引用标准

下列文件中的条款通过GB/T17554的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
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