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光栅角位移测量系统

标准编号：JB/T 10034-1999

标准名称：光栅角位移测量系统

标准定价：￥16.0元

简介： JB/T 10034-1999 本标准是对 ZB J42 040-90《光栅角位移测量系统》的修订，修订时仅按有关规定作了编辑性修改，技术内容没有改变。本标准规定了光栅角位移测量系统的基本参数、技术要求和基本试验方法。本标准适用于分辨率为 0.1″～120″的测量系统。本标准于 1990 年 9 月 28 日首次发布。


英文名称：	Grating angular displacement measuring system
替代情况：	ZB J42040-1990
中标分类：	机械>>工艺装备>>J42量具与量仪
ICS分类：	机械制造>>机床装置>>25.060.20分度和刀具/工件夹持装置
发布部门：	全国量具量仪标准化技术委员会
发布日期：	1999-05-20
实施日期：	2000-01-01
归口单位：	全国量具量仪标准化技术委员会
批文号：	国机管[1999]281号
页数：	13 页
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