纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法 |
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| 标准编号：GB/T 23413-2009 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：29.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。
本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。 |
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| 英文名称： |
Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method |
 中标分类： |
仪器、仪表>>试验机与无损探伤仪器>>N78X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器 |
| ICS分类： |
试验>>19.100无损检测 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2009-04-01 |
| 实施日期： |
2009-12-01
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| 首发日期： |
2009-04-01 |
| 提出单位： |
全国微束标准化技术委员会 |
| 归口单位： |
全国微束标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
钢铁研究总院、首钢技术研究院 |
| 起草人： |
方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍 |
| 计划单号： |
20030761-T-469 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2009-12-01 |
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本标准的附录Ａ 为规范性附录。
本标准由全国微束标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位：钢铁研究总院、首钢技术研究院。
本标准主要起草人：方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍。 |
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ＧＢＷ（Ｅ）１３００１４ Ｘ 射线衍射硅粉末标准物质
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