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俄歇电子能谱分析方法通则

国家标准
标准编号:GB/T 26533-2011 标准状态:现行
标准价格:18.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了以电子束为激发源的俄歇电子能谱(AES,AugerElectronSpectroscopy)的一般表面分析方法。
本标准适用于俄歇电子能谱仪。
英文名称:  General rules for Auger electron spectroscopic analysis
什么是中标分类? 中标分类:  仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器
什么是ICS分类?  ICS分类:  37.020;17.180
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2011-05-12
实施日期:  2011-12-01
首发日期:  2011-05-12
提出单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
什么是归口单位? 归口单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
主管部门:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
起草单位:  清华大学化学系
起草人:  姚文清、李展平、曹立礼、朱永法
页数:  16页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2011-12-01
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前言
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准起草单位:清华大学化学系。
本标准主要起草人:姚文清、李展平、曹立礼、朱永法。
目录
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 方法原理 1
5 仪器 2
5.1 仪器组成 2
5.2 仪器性能 3
6 样品 3
7 分析步骤 4
7.1 能量标尺校正 4
7.2 AES定性分析及操作步骤 6
7.3 俄歇电子能谱的定量分析 6
7.4 深度剖析 7
7.5 元素化学态分析 7
8 分析结果的表述 7
8.1 俄歇全谱 7
8.2 窄谱 7
8.3 线扫描谱 7
8.4 深度剖析谱 7
8.5 多点显微对比分析 8
8.6 样品表面元素分布图(Augermap) 8
8.7 分析结果表述方式 8
图1 KL1L3 俄歇跃迁 2
图2 俄歇电子能谱简图 2
图3 Cu、Au和Al三个参考物质的直接谱和微分谱(相对能量分辨率0.3%) 5
表1 参考物质的俄歇电子动能参考值 4
引用标准
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ISO18118:2002(E) 表面化学分析 AES和XPS均匀材料定量分析所用的实验相对灵敏度因子使用指南(SurfaceChemicalAnalysis—AESandXPS—GuidetouseofExperimentalRelativeSensitivityFactorsfortheQuantitativeAnalysisofHomogeneousMaterials)
ISO/TR18394:2006 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息来源(SurfaceChemical
Analysis—AugerElectronSpectrometers—DerivationofChemicalInformation)
ISO/TR19319:2003 表面化学分析 俄歇电子能谱和X 射线光电子谱 分析者对于横向分辨率、分析范围和样品观察范围的测定(SurfaceChemicalAnalysis—AugerEletronSpectroscopyandXrayPhotoelectronSpectroscopy—
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本标准相关公告
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2011年第06号 [2011-05-26]

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