无损检测 术语 磁记忆检测 |
 |
| 标准编号：GB/T 12604.10-2011 |
标准状态：已作废 |
|
| 标准价格：29.0 元 |
客户评分：  |
|
|
本标准有现货可当天发货一线城市最快隔天可到！ |
|
|
|
|
|
本标准界定了金属磁记忆检测的术语和定义。
本标准适用于磁记忆检测和无损检测及其他相关领域。 |
|
|
|
| 英文名称： |
Non-destructive testing—Terminology—Terms used in magnetic memory testing |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 12604.10-2023代替 |
| 中标分类： |
机械>>机械综合>>J04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
试验>>19.100无损检测 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2011-06-16 |
| 实施日期： |
2012-03-01
|
| 作废日期： |
2023-05-23
|
| 首发日期： |
2011-06-16 |
| 归口单位： |
全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56) |
| 主管部门： |
全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56) |
| 起草单位： |
爱德森(厦门)电子有限公司、中国特种设备检测研究院、北京航空材料研究院等 |
| 起草人： |
林俊明、陈钢、徐可北、沈功田、雷银照、胡先龙、董世运、胡斌 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2012-03-01 |
|
|
|
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)归口。
本标准起草单位:爱德森(厦门)电子有限公司、中国特种设备检测研究院、北京航空材料研究院、北京航空航天大学、华北电力科学研究院、装甲兵工程学院、上海泰司检测科技有限公司。
本标准主要起草人:林俊明、陈钢、徐可北、沈功田、雷银照、胡先龙、董世运、胡斌。 |
|
|
|
| |