微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析 |
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| 标准编号：GB/T 28634-2012 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：31.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS),通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。
内容包括:
———定量分析原理;
———本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围;
———仪器的一般要求;
———有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。
本标准适用于电子束垂直入射,要求定量分析的块状试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。 |
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| 英文名称： |
Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy |
 中标分类： |
仪器、仪表>>物质成分分析仪器与环境监测仪器>>N53电化学、热化学、光学式分析仪器 |
| ICS分类： |
化工技术>>分析化学>>71.040.99有关化学分析方 |
| 采标情况： |
ISO 22489:2006 IDT |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2012-07-31 |
| 实施日期： |
2013-02-01
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| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
| 主管部门： |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
| 起草单位： |
中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 起草人： |
曾毅、李香庭、吴伟 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2013-02-01 |
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本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则编写。
本标准使用翻译法等同采用ISO22489:2006《微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析》(英文版)。
本标准做了下列编辑性修改:
用10-6替代ppm。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准主要起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
本标准主要起草人:曾毅、李香庭、吴伟。 |
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前言 Ⅰ
引言 Ⅱ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 缩略语 1
4 定量过程 1
5 实验报告 6
附录A (资料性附录) 物理效应和校正 8
附录B(资料性附录) 不同校正方法概述 9
附录C (规范性附录) 有化学效应的k 比值测量 10
参考文献 11 |
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下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T4930 电子探针分析标准样品技术条件导则(ISO14595,IDT)
GB/T17359—2012 微束分析 能谱法定量分析(ISO22309,IDT)
GB/T27025—2006 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则(ISO17470:2004,IDT)
GB/T27025—2008 检测和校准实验室能力的通用要求(ISO/IEC17025:2005,IDT)
ISO14594 微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数的测定导则(Guidelinesforthe determinationofexperimentalparametersforwavelengthdispersivespectroscopy) |
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