超辐射发光二极管组件测试方法 |
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| 标准编号：SJ 20785-2000 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：20.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了超辐射发光二极管组件光电参数的测试方法。
本标准适用于超辐射发光二极管组件（以下简称“组件”）光电参数测试。 |
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| 英文名称： |
Measuring methods for super luminescent diode module |
 中标分类： |
>>>>L5980 |
| 发布部门： |
中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： |
2000-10-20 |
| 实施日期： |
2000-10-20
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| 归口单位： |
中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： |
电子工业部第44研究所 |
| 起草人： |
魏进、易向阳、常利发、李春芳 |
| 页数： |
28页 |
| 出版社： |
工业电子出版社 |
| 出版日期： |
2004-04-19 |
| 标准前页： |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |
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| GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件 |
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