集成电路金属外壳目检标准 |
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| 标准编号：SJ 20802-2001 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：20.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了军用集成电路金属外壳（包括底座和盖板）的外观目的要求。本标准适用于军用集成电路金属外壳的制造和检验，也适用于半导体分立器件金属外壳的制造和检验。 |
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| 英文名称： |
Visual inspection criteria for integrated circuits metal packages |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合 |
| 发布部门： |
中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： |
2001-12-27 |
| 实施日期： |
2002-01-01
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| 归口单位： |
信息产业部电子第四研究所 |
| 起草单位： |
信息产业部电子第四十三研究所 |
| 起草人： |
雷剑、陆纯兰、冯玲玲、吴凡、张崎 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国电子技术标准化研究所 |
| 出版日期： |
2002-01-01 |
| 标准前页： |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |
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GB/T 14113-1993 半导体集成电路封装术语
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