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表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序

国家标准
标准编号:GB/Z 32490-2016 标准状态:现行
标准价格:31.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本指导性技术文件给出了确定X射线光电子能谱中本底的指南。本指导性技术文件适用于固体表面X射线激发的光电子和俄歇电子能谱的本底确定。
英文名称:  Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds
什么是中标分类? 中标分类:  化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
什么是ICS分类?  ICS分类:  化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析
什么是采标情况? 采标情况:  ISO/TR 18392:2005 IDT
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2016-02-24
实施日期:  2017-01-01
复审日期:  2023-12-28
提出单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
什么是归口单位? 归口单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
主管部门:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
起草单位:  清华大学、中山大学
起草人:  李展平、陈建、姚文清、谢方艳、曹立礼、朱永法
页数:  16页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2017-01-01
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前言
本指导性技术文件按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本指导性技术文件使用翻译法等同使用ISO/TR 18932:2005《表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序》。
本指导性技术文件由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)提出并归口。
本指导性技术文件负责起草单位:清华大学、中山大学。
本指导性技术文件主要起草人:李展平、陈建、姚文清、谢方艳、曹立礼、朱永法。

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