人造石英晶体位错X射线形貌检测方法 |
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| 标准编号：GB 11114-1989 |
标准状态：已废止 |
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| 标准价格：20.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了观测人造石英晶体的位错、划痕、层错、孪晶、沉淀物和生长条纹等缺陷和估算其位错密度的X射线衍射形貌方法。本标准适用于人造石英晶体及天然石英晶体位错密度等缺陷的检测。 |
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| 英文名称： |
Method for detecting dislocations of synthetic quartz crystal using X-ray topographic technique |
| 标准状态： |
已废止 |
 替代情况： |
废止公告：国家标准公告2017年第31号 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料 |
| ICS分类： |
电子学>>31.020 电子元件综合
31电子学 |
| 发布部门： |
中华人民共和国机械电子工业部 |
| 发布日期： |
1989-03-22 |
| 实施日期： |
1990-03-01
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| 作废日期： |
2017-12-15
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| 首发日期： |
1989-03-31 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
信息产业部（电子） |
| 起草单位： |
中国科学院物理研究所和机械电子工业部电子标准化研究所 |
| 起草人： |
麦振洪、葛培文、刘承钧、张和贞、储希 |
| 页数： |
5页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
1990-03-03 |
| 标准前页： |
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