|
| 英文名称： |
Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L50光电子器件组合 |
| ICS分类： |
电子学>>31.260光电子学、激光设备 |
| 采标情况： |
IEC 60747-5-3:1997,IDT |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： |
2003-01-01 |
| 实施日期： |
2004-08-01
|
| 首发日期： |
2003-11-24 |
| 复审日期： |
2023-12-28 |
| 提出单位： |
中华人民共和国信息产业部 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
信息产业部（电子） |
| 起草单位： |
华禹光谷股份有限公司半导体厂 |
| 起草人： |
陈兰、那仁、王守华 |
| 页数： |
16开， 页数：27， 字数：48千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-20664 |
| 出版日期： |
2004-08-01 |
| 标准前页： |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |
|