GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法国家标准(GB)-工标网

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标准简介

本标准规定了半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要特性的测量方法。
本标准适用于半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要性能的测量。


英文名称：	Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
替代情况：	GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989
中标分类：	能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F80核仪器与核探测器综合
ICS分类：	能源和热传导工程>>核能工程>>27.120.01核能综合
采标情况：	NEQ IEC 60759:1983
发布部门：	国防科学技术工业委员会
发布日期：	2003-07-07
实施日期：	2004-01-01
首发日期：	1989-10-14
复审日期：	2023-12-28
提出单位：	全国核仪器仪表标准化技术委员会
归口单位：	核工业标准化研究所
主管部门：	国防科学技术工业委员会
起草单位：	核工业标准化研究所
起草人：	熊正隆
页数：	26页
出版社：	中国标准出版社
书号：	155066.1-19982
出版日期：	2004-04-09
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