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共找到13条相关标准,现行8,作废2,废止3,耗时0.137秒
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标准编号
标准名称
发布部门
实施日期
状态
GB/T 17170-1997
非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法
国家技术监督局
1998-08-01
作废
GB/T 17170-2015
半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法
国家质量监督检验检疫.
2016-07-01
现行
GB/T 19199-2003
半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法
国家标准化管理委员会
2004-01-01
作废
GB/T 19199-2015
半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法
国家质量监督检验检疫.
2016-07-01
现行
GB/T 42271-2022
半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
国家市场监督管理总局.
2023-04-01
现行
SJ/T 11487-2015
半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11488-2015
半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11864-2022
半绝缘型碳化硅单晶衬底
工业和信息化部
2023-01-01
现行
SJ 20635-1997
半绝缘砷化镓剩余杂质浓度微区试验方法
1997-10-01
现行
SJ 3249.1-1989
半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法
1989-03-25
废止
SJ 3249.2-1989
半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法
1989-03-25
废止
SJ 3249.3-1989
半绝缘砷化镓中铬浓度的红外吸收测试方法
1989-03-25
现行
SJ 3249.4-1989
半绝缘砷化镓中EL2浓度的红外吸收测试方法
1989-03-25
废止
共有13条符合状态条件的标准,共1页
现行
即将实施
作废
废止
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