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 共找到13条相关标准,现行8,作废2,废止3,耗时0.137秒
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 17170-1997  非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法 国家技术监督局 1998-08-01 作废
 GB/T 17170-2015  半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法 国家质量监督检验检疫. 2016-07-01 现行
 GB/T 19199-2003  半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 国家标准化管理委员会 2004-01-01 作废
 GB/T 19199-2015  半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 国家质量监督检验检疫. 2016-07-01 现行
 GB/T 42271-2022  半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 国家市场监督管理总局. 2023-04-01 现行
 SJ/T 11487-2015  半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 工业和信息化部 2015-10-01 现行
 SJ/T 11488-2015  半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 工业和信息化部 2015-10-01 现行
 SJ/T 11864-2022  半绝缘型碳化硅单晶衬底 工业和信息化部 2023-01-01 现行
 SJ 20635-1997  半绝缘砷化镓剩余杂质浓度微区试验方法 1997-10-01 现行
 SJ 3249.1-1989  半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法 1989-03-25 废止
 SJ 3249.2-1989  半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 1989-03-25 废止
 SJ 3249.3-1989  半绝缘砷化镓中铬浓度的红外吸收测试方法 1989-03-25 现行
 SJ 3249.4-1989  半绝缘砷化镓中EL2浓度的红外吸收测试方法 1989-03-25 废止
 共有13条符合状态条件的标准,共1页 现行 即将实施 作废 废止 
 
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