| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 14119-1993 |
半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器 空白详细规范(可供认证用) |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
现行 |
| GB/T 16284.5-1996 |
信息技术 文本通信 面向信报的文本交换系统 第5部分:信报存储器:抽象服务定义 |
国家技术监督局
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1996-01-02 |
现行 |
| GB/T 16505.2-1996 |
信息处理系统 开放系统互连 文卷传送、访问和管理 第2部分:虚文卷存储器定义 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 16969-1997 |
信息技术 只读120mm数据光盘(CD-ROM)的数据交换 |
国家技术监督局
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1998-04-01 |
现行 |
| GB/T 16970-1997 |
信息处理 信息交换用只读光盘存储器(CD-ROM)的盘卷和文卷结构 |
国家技术监督局
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1998-04-01 |
现行 |
| GB/T 16971-1997 |
信息技术 信息交换用130mm可重写盒式光盘 |
国家技术监督局
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1998-04-01 |
现行 |
| GB/T 17574.10-2003 |
半导体器件 集成电路 第2-10部分：数字集成电路 集成电路动态读/写存储器 空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-08-01 |
现行 |
| GB/T 17574.11-2006 |
半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-05-01 |
现行 |
| GB/T 17574.9-2006 |
半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-05-01 |
现行 |
| GB/T 17704.2-1999 |
信息技术 信息交换用130mm一次写入盒式光盘 第2部分：记录格式 |
国家质量技术监督局
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1999-10-01 |
现行 |
| GB/Z 18808-2002 |
信息技术 130mm一次写入盒式光盘记录格式技术规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-04-01 |
现行 |
| GB/T 19969-2005 |
信息技术 信息交换用130mm盒式光盘 容量：每盒2.6G字节 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-05-01 |
现行 |
| GB 3437-1982 |
半导体集成电路MOS存储器系列和品种 |
国家标准局
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1983-10-01 |
作废 |
| GB 3438-1982 |
半导体集成电路双极型存储器系列和品种 |
国家标准局
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1983-10-01 |
作废 |
| GB 3443-1982 |
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 |
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1983-10-01 |
作废 |
| GB 3444-1982 |
半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 |
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1983-10-01 |
作废 |
| GB/T 35003-2018 |
非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 35008-2018 |
串行NOR型快闪存储器接口规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 36474-2018 |
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2019-01-01 |
现行 |
| GB/T 36477-2018 |
半导体集成电路 快闪存储器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2019-01-01 |
现行 |
| GB/T 36614-2018 |
集成电路 存储器引出端排列 |
国家市场监督管理总局.
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2019-01-01 |
现行 |
| GB/T 42974-2023 |
半导体集成电路 快闪存储器（FLASH） |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB 5271.12-1985 |
数据处理词汇 12部分 数据媒体、存储器和有关设备 |
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1986-04-01 |
作废 |
| GB/T 6648-1986 |
半导体集成电路静态读/写存储器空白详细规范(可供认证用) |
国家标准局
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1987-08-01 |
现行 |
| GB 6794-1986 |
半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理 |
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1987-07-01 |
作废 |