| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 20235-2006 |
银氧化锡电触头材料技术条件 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-12-01 |
现行 |
| GB/T 24268-2009 |
银氧化锡电触头材料化学分析方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-02-01 |
现行 |
| GB/T 24273-2009 |
电触头材料电性能试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-02-01 |
现行 |
| GB/T 26871-2011 |
电触头材料金相试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-12-01 |
现行 |
| GB/T 26872-2011 |
电触头材料金相图谱 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-12-01 |
现行 |
| GB 5586-1985 |
电触头材料基本性能试验方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
| GB/T 5586-1998 |
电触头材料基本性能试验方法 |
国家技术监督局
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1998-10-01 |
作废 |
| GB/T 5586-2016 |
电触头材料基本性能试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-09-01 |
现行 |
| JB/T 12073-2014 |
银碳化钨电触头材料技术条件 |
工业和信息化部
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2014-11-01 |
现行 |
| JB/T 4107.1-1999 |
电触头材料化学分析方法 总则及一般规定 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
作废 |
| JB/T 4107.1-2014 |
电触头材料化学分析方法 第1部分：总则及一般规定 |
工业和信息化部
|
2014-11-01 |
现行 |
| JB/T 4107.2-1999 |
电触头材料化学分析方法 铜钨中铜含量的测定（磺量法） |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
作废 |
| JB/T 4107.2-2014 |
电触头材料化学分析方法 第2部分：铜钨中铜含量的测定 |
工业和信息化部
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2014-11-01 |
现行 |
| JB/T 4107.3-2014 |
电触头材料化学分析方法 第3部分：银石墨中碳含量的测定 |
工业和信息化部
|
2014-11-01 |
现行 |
| JB/T 4107.4-1999 |
电触头材料化学分析方法 银钨中银含量的测定（磺量法） |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
作废 |
| JB/T 4107.4-2014 |
电触头材料化学分析方法 第4部分：银钨中银含量的测定 |
工业和信息化部
|
2014-11-01 |
现行 |
| JB/T 4107.5-1999 |
电触头材料化学分析方法 银镍中镍含量的测定（ETDA容量法） |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
作废 |
| JB/T 4107.5-2014 |
电触头材料化学分析方法 第5部分：银镍中镍含量的测定 |
工业和信息化部
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2014-11-01 |
现行 |
| JB/T 4107.6-1999 |
电触头材料化学分析方法 银铁中铁含量的测定（重铬酸钾法测定铁量） |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
作废 |
| JB/T 4107.6-2014 |
电触头材料化学分析方法 第6部分：银铁中铁含量的测定 |
工业和信息化部
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2014-11-01 |
现行 |
| JB/T 4107.7-1999 |
电触头材料化学分析方法 银石墨中碳含量的测定（气体容量法测定碳量） |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
作废 |
| JB/T 5336-2008 |
铜钨电触头材料用钨粉 技术条件 |
国家发展和改革委员会.
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 6237.1-2008 |
电触头材料用银粉化学分析方法 第1部分：氯化银沉淀—对二甲替氨基亚苄基罗丹宁分光光度法测定银量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 6237.10-2008 |
电触头材料用银粉化学分析方法 第10部分：重量法测定氯化银含量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 6237.2-2008 |
电触头材料用银粉化学分析方法 第2部分：双环己酮草酰二腙分光光度法测定铜量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |