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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态  GB 4192-1984  电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法 国家标准局 1984-11-01 现行  SJ 2355.1-1983  半导体发光器件测试方法 总则 1984-07-01 作废  SJ 2355.2-1983  半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法 1984-05-01 作废  SJ 2355.3-1983  半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2355.4-1983  半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2355.5-1983  半导体发光器件测试方法 法向光强和半强度角的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2355.6-1983  半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2355.7-1983  半导体发光器件测试方法 发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法 1984-03-01 作废

共有8条符合状态条件的标准，共1页 现行 即将实施 作废 废止

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