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共找到8条相关标准,现行1,作废7,耗时0.207秒
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标准编号
标准名称
发布部门
实施日期
状态
GB 4192-1984
电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法
国家标准局
1984-11-01
现行
SJ 2355.1-1983
半导体发光器件测试方法 总则
1984-07-01
作废
SJ 2355.2-1983
半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法
1984-05-01
作废
SJ 2355.3-1983
半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法
1984-07-01
作废
SJ 2355.4-1983
半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法
1984-07-01
作废
SJ 2355.5-1983
半导体发光器件测试方法 法向光强和半强度角的测试方法
1984-07-01
作废
SJ 2355.6-1983
半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法
1984-07-01
作废
SJ 2355.7-1983
半导体发光器件测试方法 发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
1984-03-01
作废
共有8条符合状态条件的标准,共1页
现行
即将实施
作废
废止
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