标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB 10985-1989 |
光学系统 畸变的测定 |
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1990-01-01 |
作废 |
GB 10987-1989 |
光学系统 参数的测定 |
中国机械工业联合会
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1990-01-01 |
作废 |
GB/T 10987-2009 |
光学系统 参数的测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-12-01 |
现行 |
GB 10988-1989 |
光学系统杂(散)光测量方法 |
中国机械工业联合会
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1990-01-01 |
作废 |
GB/T 10988-2009 |
光学系统杂(散)光测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-12-01 |
现行 |
GB 11168-1989 |
光学系统像质 测试方法 |
中国机械工业联合会
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1989-05-01 |
作废 |
GB/T 11168-2009 |
光学系统像质测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-12-01 |
现行 |
GB/T 18904.1-2002 |
半导体器件 第12-1部分: 光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-05-01 |
现行 |
GB/T 18904.2-2002 |
半导体器件 第12-2部分: 光电子器件 纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-05-01 |
现行 |
GB/T 18904.4-2002 |
半导体器件 第12-4部分: 光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的Pin-FET模块空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-05-01 |
现行 |
GB/T 18904.5-2003 |
半导体器件 第12-5部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-08-01 |
现行 |
GB/T 22057.2-2008 |
显微镜 相对机械参考平面的成像距离 第2部分:无限远校正光学系统 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-01-01 |
作废 |
GB/T 27667-2011 |
光学系统像质评价 畸变的测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2012-05-01 |
现行 |
MH/T 4056-2024 |
数字化塔台光学系统技术要求 |
中国民用航空局
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2024-02-01 |
现行 |
SJ 958-1975 |
电子束管电子光学系统电极命名方法 |
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1976-03-01 |
作废 |
SJ/T 958-2000 |
电子束管电子光学系统电极命名方法 |
信息产业部
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2001-03-01 |
现行 |
SJ 958-75 |
电子束管电子光学系统电极命名方法 |
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1976-03-01 |
现行 |