| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB 11498-1989 |
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用) |
机械电子工业部
|
1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 11498-2018 |
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) |
国家市场监督管理总局.
|
2019-07-01 |
现行 |
| GB/T 12273.501-2012 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分：空白详细规范 鉴定批准 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-02-15 |
现行 |
| GB/T 12859.1-2012 |
电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第1部分：总规范-鉴定批准 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-02-15 |
现行 |
| GB/T 12859.2-2012 |
电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第2部分：分规范-鉴定批准 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-02-15 |
现行 |
| GB/T 12864-1997 |
电子设备用压电陶瓷滤波器 电子元器件质量评定体系规范 第2部分:分规范 鉴定批准 |
国家技术监督局
|
1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 12865-1997 |
电子设备用压电陶瓷滤波器 电子元器件质量评定体系规范 第2部分:分规范 鉴定批准 第一篇:空白详细规范 评定水平E |
国家技术监督局
|
1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 13062-1991 |
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 (采用鉴定批准程序) |
国家技术监督局
|
1992-03-01 |
作废 |
| GB/T 13062-2018 |
半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序) |
国家市场监督管理总局.
|
2019-07-01 |
现行 |
| GB/T 16517-1996 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分 分规范 鉴定批准 |
国家技术监督局
|
1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 17190-1997 |
电子设备用压电陶瓷滤波器 电子元器件质量评定体系规范 第1部分:总规范 鉴定批准 |
国家技术监督局
|
1998-10-01 |
现行 |
| SJ/T 10708-1996 |
石英晶体件－电子器件质量评定体系规范 第３部分：分规范－鉴定批准 第一篇 空白详细规范 |
电子工业部
|
1996-11-01 |
现行 |
| SJ/T 11257-2001 |
有质量评定的石英晶体振荡器 第5部分：分规范-鉴定批准 |
|
2002-05-01 |
现行 |
| SJ/T 11258-2001 |
有质量评定的石英晶体振荡器 第5-1部分：空白详细规范-鉴定批准 |
信息产业部
|
2002-05-01 |
现行 |
| SJ/T 2960.1-2013 |
电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷陷波器 第1部分：总规范 鉴定批准 |
工业和信息化部
|
2013-12-01 |
现行 |
| SJ/T 2960.2-2013 |
电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷陷波器 第2部分：分规范 鉴定批准 |
工业和信息化部
|
2013-12-01 |
现行 |
| SJ/T 2964.1-2013 |
电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷鉴频器 第1部分：总规范 鉴定批准 |
工业和信息化部
|
2013-12-01 |
现行 |
| SJ/T 2964.2-2013 |
电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷鉴频器 第2部分：分规范 鉴定批准 |
工业和信息化部
|
2013-12-01 |
作废 |