| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 10067.34-2015 |
电热装置基本技术条件 第34部分：晶体管式高频感应加热装置 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-05-01 |
现行 |
| GB 10271-1988 |
电子器件详细规范 3DG162型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用) |
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1989-08-01 |
作废 |
| GB 10272-1988 |
电子器件详细规范 3DG182型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用) |
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1989-08-01 |
作废 |
| GB 10273-1988 |
电子器件详细规范 3DG140型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用) |
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1989-08-01 |
作废 |
| GB 10274-1988 |
电子器件详细规范 4CS119型硅高频双绝缘栅场效应晶体管(可供认证用) |
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1989-08-01 |
作废 |
| GB 10275-1988 |
电子器件详细规范 4CS1191 型硅高频双绝缘栅场效应晶体管(可供认证用) |
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1989-08-01 |
作废 |
| GB 10276-1988 |
电子器件详细规范 4CS142型硅高频双绝缘栅场效应晶体管(可供认证用) |
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1989-08-01 |
作废 |
| GB 10277-1988 |
电子器件详细规范 4CS1421 型硅高频双绝缘栅场效应晶体管(可供认证用) |
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1989-08-01 |
作废 |
| GB 10278-1988 |
电子器件详细规范 CS422OA 型单栅N沟结型场效应晶体管(可供认证用) |
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1989-08-01 |
作废 |
| GB 10279-1988 |
电子器件详细规范 3DG3130 型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用 |
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1989-08-01 |
作废 |
| GB 12300-1990 |
功率晶体管安全工作区测试方法 |
国家技术监督局
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1990-08-01 |
现行 |
| GB/T 13066-1991 |
单结晶体管空白详细规范 |
国家技术监督局
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1992-03-01 |
作废 |
| GB/T 15449-1995 |
管壳额定开关用场效应晶体管空白详细规范 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
现行 |
| GB/T 15450-1995 |
硅双栅场效应晶体管空白详细规范 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
作废 |
| GB/T 15651.7-2024 |
半导体器件 第5-7部分：光电子器件 光电二极管和光电晶体管 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
| GB/T 16468-1996 |
静电感应晶体管系列型谱 |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
现行 |
| GB/T 17007-1997 |
绝缘栅双极型晶体管测试方法 |
国家技术监督局
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1998-08-01 |
作废 |
| GB/T 17008-1997 |
绝缘栅双极型晶体管的词汇及文字符号 |
国家技术监督局
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1998-08-01 |
作废 |
| GB/T 20992-2007 |
高压直流输电用普通晶闸管的一般要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-02-01 |
现行 |
| GB/T 21039.1-2007 |
半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-11-01 |
现行 |
| GB/T 29332-2012 |
半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) |
国家质量监督检验检疫.
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2013-06-01 |
现行 |
| GB/T 31958-2015 |
薄膜晶体管液晶显示器用基板玻璃 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-08-01 |
作废 |
| GB/T 31958-2023 |
非晶硅薄膜晶体管液晶显示器用基板玻璃 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 37403-2019 |
薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)用四甲基氢氧化铵显影液 |
国家市场监督管理总局.
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2019-09-01 |
现行 |
| GB 4586-1984 |
场效应晶体管测试方法 |
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1985-05-01 |
作废 |