| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 17023-1997 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17024-1997 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17572-1998 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| GB/T 17574-1998 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| GB/T 17574.10-2003 |
半导体器件 集成电路 第2-10部分：数字集成电路 集成电路动态读/写存储器 空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-08-01 |
现行 |
| GB/T 17574.11-2006 |
半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-05-01 |
现行 |
| GB/T 17574.20-2006 |
半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-05-01 |
现行 |
| GB/T 17574.9-2006 |
半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-05-01 |
现行 |
| GB/T 35004-2018 |
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 5965-2000 |
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路（不包括自由逻辑阵列）空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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2000-07-01 |
现行 |
| GB 9424-1988 |
CMOS数字集成电路4000系列电路空白详细规范 (可供认证用) |
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 9424-1998 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| JJF 1160-2006 |
中小规模数字集成电路测试设备校准规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-03-08 |
现行 |
| JJG (船舶) 22-1998 |
SID大规模数字集成电路测试系统检定规程 |
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1993-03-01 |
现行 |
| JJG (电子) 04035-1989 |
GR-1732M型数字集成电路测试系统(试行) |
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2004-07-01 |
现行 |
| JJG (电子) 04037-1989 |
HP5045A/5046A型数字集成电路测试仪(试行) |
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2004-07-01 |
作废 |
| JJG (电子) 04038-1989 |
I100/TM-6型数字集成电路测试仪(试行) |
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2004-07-01 |
作废 |
| JJG (电子) 31009-2007 |
数字集成电路参数传递标准器组检定规程 |
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现行 |
| JJG 1015-2006 |
通用数字集成电路测试系统检定规程 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-03-08 |
现行 |
| SJ/T 10195-1991 |
中、小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件 |
机械电子工业部
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1991-12-01 |
废止 |
| SJ/T 10196-1991 |
中、小规模数字集成电路静态参数测试仪测试方法 |
机械电子工业部
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1991-12-01 |
废止 |
| SJ/T 10428-1993 |
５４／７４ＨＣ、５４／７４ＨＣＴ、５４／７４ＨＣＵ系列高速ＣＭＯＳ数字集成电路 空白详细规范（可供认 |
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1994-06-01 |
废止 |
| SJ/Z 9015.2-1987 |
集成电路半导体器件 第2部分:数字集成电路 |
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1987-09-14 |
废止 |