| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| DB34/T 1760-2012 |
氧化铟锡透明导电膜玻璃 |
安徽省质量技术监督局
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2013-01-24 |
废止 |
| GB/T 18680-2002 |
液晶显示器用氧化铟透明导电玻璃 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-08-01 |
现行 |
| GB/T 20510-2006 |
氧化铟锡靶材 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-02-01 |
作废 |
| GB/T 20510-2017 |
氧化铟锡靶材 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-05-01 |
现行 |
| GB/T 23361-2009 |
高纯氢氧化铟 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 23362.1-2009 |
高纯氢氧化铟化学分析方法 第1部分：砷量的测定 原子荧光光谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 23362.2-2009 |
高纯氢氧化铟化学分析方法 第2部分：锡量的测定 苯基荧光酮分光光度法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 23362.3-2009 |
高纯氢氧化铟化学分析方法 第3部分：锑量的测定 原子荧光光谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 23362.4-2009 |
高纯氢氧化铟化学分析方法 第4部分：铝、铁、铜、锌、镉、铅和铊量的测定 电感耦合等离子体质谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 23362.5-2009 |
高纯氢氧化铟化学分析方法 第5部分：氯量的测定 硫氰酸汞分光光度法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 23362.6-2009 |
高纯氢氧化铟化学分析方法 第6部分：灼减量的测定 称量法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 23363-2009 |
高纯氧化铟 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 23364.1-2009 |
高纯氧化铟化学分析方法 第1部分：砷量的测定 原子荧光光谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 23364.2-2009 |
高纯氧化铟化学分析方法 第2部分：锡量的测定 苯基荧光酮分光光度法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 23364.3-2009 |
高纯氧化铟化学分析方法 第3部分：锑量的测定 原子荧光光谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 23364.4-2009 |
高纯氧化铟化学分析方法 第4部分：铝、铁、铜、锌、镉、铅和铊量的测定 电感耦合等离子体质谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 23364.5-2009 |
高纯氧化铟化学分析方法 第5部分：氯量的测定 硫氰酸汞分光光度法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 23364.6-2009 |
高纯氧化铟化学分析方法 第6部分：灼减量的测定 称量法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-01-01 |
现行 |
| GB/T 38389-2019 |
氧化铟锡靶材化学分析方法 |
国家市场监督管理总局.
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2020-11-01 |
现行 |
| JB/T 7777.1-1995 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
| JB/T 7777.1-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第1部分：碘量法测定锡量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7777.2-1995 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学 |
|
1996-01-01 |
作废 |
| JB/T 7777.2-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第2部分：EDTA容量法测定铟量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7777.3-1995 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学 |
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1996-01-01 |
作废 |
| JB/T 7777.3-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第3部分：丁二酮肟分光光度法测定镍量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |