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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态  GB 3438-1982  半导体集成电路双极型存储器系列和品种 国家标准局 1983-10-01 作废  GB 3443-1982  半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 1983-10-01 作废  GB 3444-1982  半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 1983-10-01 作废  SJ/T 10739-1996  半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理 1997-01-01 废止  SJ/T 10740-1996  半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理 1997-01-01 废止

共有5条符合状态条件的标准，共1页 现行 即将实施 作废 废止

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