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微束分析 扫描电子显微术 术语

国家标准
标准编号:GB/T 23414-2009 标准状态:现行
标准价格:30.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准定义了扫描电子显微术(SEM)实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语,也包括已经在ISO23833中定义的术语。
本标准适用于所有有关SEM 实践的标准化文件。另外,本标准的某些术语定义,也适用于相关领域的文件〔例如:电子探针显微分析(EPMA)、分析电子显微术(AEM)、能谱法(EDX)等〕。
英文名称:  Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
什么是中标分类? 中标分类:  仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器
什么是ICS分类?  ICS分类:  01.040.37:37.020
什么是采标情况? 采标情况:  IDT ISO 22493:2008
发布部门:  国家标准化管理委员会
发布日期:  2009-04-01
实施日期:  2009-12-01
首发日期:  2009-04-01
提出单位:  全国微束分析标准化技术委员会
什么是归口单位? 归口单位:  全国微束分析标准化技术委员会
主管部门:  国家标准化管理委员会
起草单位:  中国科学院上海硅酸盐研究所
起草人:  李香庭、曾毅
计划单号:  20067089-T-469
页数:  32页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2009-12-01
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前言
本标准等同采用国际标准ISO22493:2008《微束分析 扫描电子显微术 术语》(英文版)。
为了便于使用,本标准做了下列编辑性修改:
---本国际标准一词改为本标准;
---删除国际标准的前言。
---扫描电子显微镜简称扫描电镜。
---增加了中文索引。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
本标准主要起草人:李香庭、曾毅。
目录
前言Ⅰ
引言Ⅱ
1 范围1
2 缩略语1
3 SEM 物理基础术语1
4 SEM 仪器术语5
5 SEM 成像和图像处理术语10
6 SEM 图像诠释和分析术语14
7 SEM 图像放大倍率和分辨率校正及测量术语16
参考文献18
中文索引19
英文索引22
本标准相关公告
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2009年第04号(总第144号) [2009-05-20]

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