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| 英文名称： |
Germanium monocrystal—Measurement of resistivity-DC linear four-point probe |
 中标分类： |
冶金>>金属化学分析方法>>H17半金属及半导体材料分析方法 |
| ICS分类： |
冶金>>金属材料试验>>77.040.99金属材料的其他试验方法 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2011-01-10 |
| 实施日期： |
2011-10-01
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| 首发日期： |
2011-01-10 |
| 归口单位： |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
| 主管部门： |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
| 起草单位： |
南京中锗科技股份有限公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司 |
| 起草人： |
张莉萍、焦欣文、王学武、普世坤 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2011-10-01 |