可靠性试验 第1部分：试验条件和统计检验原理 |
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| 标准编号：GB/T 5080.1-2012 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：86.0 元 |
客户评分：  |
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GB/T5080的本部分为可靠性试验设计、实施和利用统计方法分析试验数据提供指南。
本部分阐述的试验涉及修理产品和不修理产品,以及检验产品是否具有恒定失效强度或失效率。
本部分适用于:
———当根据合同明确或隐含的要求进行可靠性试验时;
———当设计可靠性试验时;
———在可靠性试验期间;
———当对可靠性试验数据进行分析和编制可靠性试验报告时。
当合同或试验方案指定使用统计方法的国家标准,而没有指定参考特定的标准时,本部分也适用。
在一个新产品研制、设计验证、设计定型期间,需要进行不同的试验。这些试验的目的是发现产品在设计中存在的缺陷,并且消除这些缺陷,从而提高产品的性能、质量、安全性、健壮性、可靠性、可用性,同时降低费用。虽然有关试验条件、试验设计和试验文件编制等指南均适用于大多数试验,但本部分仅涉及使用统计方法分析试验数据的内容。
尽管本部分对可用性试验、维修性试验和可靠性增长试验有所论述,但因为它们是个十分重要的论题,所以它们在各自的标准中有更为详细的介绍:可用性试验(见GB/T15647—1995),维修性试验(见GB/T9414(所有部分)),可靠性增长试验(见GB/T15174—1994、IEC61164:1995)。
本部分不包含软件测试(见IEC61704),但是本部分适用于包含硬件和软件的产品。因此本部分
适用的产品范围十分广泛,它包括民品、工业产品、军品以及航空产品。本部分包含了对验证、测定、比较以及成功率/失败率评估的分析,并在第9章中给出了一个进行可靠性试验数据统计处理指南的流程图。
本 部分虽然没有对环境试验、加速步进应力试验和过应力试验进行详细描述,但是一些做法和统计工具可用于这些试验。 |
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| 英文名称： |
Reliability testing - Part 1: Test conditions and statistical test principles |
 替代情况： |
替代GB/T 5080.1-1986 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L05可靠性和可维护性 |
| ICS分类： |
03.120.10;03.120.30 |
| 采标情况： |
IEC 60300-3-5:2001 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2012-11-05 |
| 实施日期： |
2013-02-15
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| 首发日期： |
1986-11-19 |
| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国电工电子可靠性与维修性标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
工业和信息化部（电子） |
| 起草单位： |
工业和信息化部电子第五研究所、北京航空工程技术研究中心 |
| 起草人： |
邝志礼、李新祥、张蕊、梅文华 |
| 页数： |
56页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2013-02-15 |
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GB/T5080《可靠性试验》分为六个部分:
———第1部分:试验条件和统计检验原理;
———第2部分:试验周期设计;
———第4部分:指数分布情况下的点估计、置信区间、预测区间和容许区间统计方法;
———第5部分:成功率的验证试验方案;
———第6部分:恒定失效率假设的有效性检验;
———第7部分:恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案。
注:上面所列之所以缺少第3部分,是因为对应于IEC的相应部分是国家标准GB/T7288.1—1987《设备可靠性试验 推荐的试验条件 室内便携设备 粗模拟》和GB/T7288.2—1987《设备可靠性试验 推荐的试验条件 固定使用在有气候防护场所设备 精模拟》。
本部分为GB/T5080的第1部分。
本部分按照GB/T1.1—2009和GB/T20000.2—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T5080.1—1986《设备可靠性试验 总要求》。
本部分与GB/T5080.1—1986相比主要变化有:
———本部分的相关内容需要与IEC标准的技术内容一致,但目前尚没有与IEC标准对应的国家标准,因此在规范性引用文件中直接引用IEC标准;
———标准结构采用IEC60300-3-5:2001的结构,对GB/T5080.1—1986中重复内容进行整合;
———增加了可靠性比较试验的内容(见5.3);
———增加了冗余产品的失效的内容(见7.2.2.3);
———增加了试验数据分析的内容(见第8章);
———增加了统计工具和分析方法的内容(见第9章);
———增加了两个资料性附录的内容(见附录A、附录B);
———删除了GB/T5080.1—1986第13章的内容;
———删除了GB/T5080.1—1986附录A 的内容。
本部分使用翻译法等同采用IEC60300-3-5∶2001《可信性管理 第3-5部分:应用指南 可靠性试验条件和统计检验原理》(英文版)。
与本部分中规范性引用的国际标准有一致性对应关系的我国国家标准如下:
———GB/T5080.5—200× 可靠性试验 成功率的验证试验方案(IEC61123:1991,IDT)
———GB/T5080.7—200× 可靠性试验 恒定失效率和恒定失效强度的验证试验(IEC61124:1997,IDT)
———GB/T5081—200× 现场可信性数据收集(IEC60300-3-2:1993,IDT)
———GB/T7829—200× 故障树分析(FTA)程序(IEC61025:1990,IDT)
上述国家标准已经在修订中。
本部分与IEC60300-3-5:2001相比存在差异如下:
———在规范性引用文件中增加GB/T7288(所有部分)的引用。
———本部分的3.1“术语和定义”的条编号作了编辑性修改,即由于IEC60300-3-5:2001的3.1.6determinationtest和3.1.8estimationtest两个术语,在汉语上是一个术语“测定试验”,且定义是一致的,因此将它们合并成本部分的3.1.6 测定试验determinationtest/estimation
GB/T5080.1—2012/IEC60300-3-5:2001
test。本部分的3.1“术语与定义”的条编号3.1.8~3.1.41对应于IEC60300-3-5:2001的3.1Termsanddefinitions的条编号3.1.9~3.1.42。
———在参考文献中增加GB/T9414(所有部分)、GB/T15174—1994和IEC61704的标准文献。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会(SAC/TC24)归口。
本部分起草单位:工业和信息化部电子第五研究所、北京航空工程技术研究中心。
本部分主要起草人:邝志礼、李新祥、张蕊、梅文华。
本部分所代替标准的历次版本发布情况:
———GB/T5080.1—1986。
GB/T5080.1—2012/IEC60300-3-5:2001 |
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下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T2421~2424(所有部分) 电工电子产品 环境试验(IEC60068(所有部分))
GB/T2900.13—2008 电工术语 可信性与服务质量(IEC60050(191):1990,IDT)
GB/T5080.2—2012 可靠性试验 第2部分:试验周期设计(IEC605-2:1994,IDT)
GB/T5080.4—1985 设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)(idtIEC60605-4:1978)
GB/T5080.6—1996 设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验(IEC60605-6:1997,IDT)
GB/T6992.2—1997 可信性管理 第2部分:可信性大纲要素和工作项目(IEC60300-2:1995,IDT) |
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