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太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法

国家标准
标准编号:GB/T 30859-2014 标准状态:现行
标准价格:18.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)翘曲度和波纹度的测试方法。
本标准适用于硅片翘曲度和波纹度的测试。
英文名称:  Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
什么是ICS分类?  ICS分类:  冶金>>77.040金属材料试验
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2014-07-24
实施日期:  2015-04-01
提出单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)
起草单位:  江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、有研半导体材料股份有限公司
起草人:  薛抗美、夏根平、孙燕、林清香、徐自亮、黄黎
页数:  16页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2015-04-01
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前言
本标准按照 GB/T1.1—2009 给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。
本标准起草单位:江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、有研半导体材料股份有限公司。
本标准主要起草人:薛抗美、夏根平、孙燕、林清香、徐自亮、黄黎。
引用标准
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