中国标准分类[H21金属物理性能试验方法]-工标网

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标准编号	标准名称	发布部门	实施日期	状态
GB 1425-1978	热分析测量贵金属共晶合金熔流点的试验方法		1979-07-01	作废
GB/T 1425-1996	贵金属及其合金熔化温度范围的测定热分析试验方法	国家技术监督局	1997-04-01	作废
GB/T 1425-2021	贵金属及其合金熔化温度范围的测定热分析试验方法	国家市场监督管理总局.	2022-03-01	现行
GB/T 14453-1993	金属材料高温弹性模量测量方法圆盘振子法	国家技术监督局	1994-01-01	作废
GB/T 1479-1984	金属粉末松装密度的测定第一部分:漏斗法	国家标准局	1984-01-02	作废
GB 1480-1984	金属粉末粒度组成的测定干筛分法		1984-12-01	作废
GB/T 1480-1995	金属粉末粒度组成的测定干筛分法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB 1481-1984	金属粉末(不包括硬质合金用粉末)在单轴压制中压缩性的测定		1984-12-01	作废
GB/T 1482-1984	金属粉末流动性的测定标准漏斗法(霍尔流速计)	国家标准局	1984-01-02	作废
GB/T 14847-1993	重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法	国家技术监督局	1994-09-01	作废
GB/T 15077-1994	贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法	国家技术监督局	1994-12-01	作废
GB/T 15078-1994	贵金属电触点材料接触电阻的测量方法	国家技术监督局	1994-12-01	作废
GB/T 15078-2021	贵金属电触点材料接触电阻的测量方法	国家市场监督管理总局.	2022-03-01	现行
GB/T 15250-1994	压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法	国家技术监督局	1995-06-01	作废
GB 1550-1979	硅单晶导电类型测定方法		1980-01-01	作废
GB/T 1550-1997	非本征半导体材料导电类型测试方法	国家技术监督局	1997-01-02	作废
GB/T 1550-2018	非本征半导体材料导电类型测试方法	国家市场监督管理总局.	2019-11-01	现行
GB 1551-1979	硅单晶电阻率直流二探针测量方法		1980-01-01	作废
GB/T 1551-1995	硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 1551-2021	硅单晶电阻率的测定直排四探针法和直流两探针法	国家市场监督管理总局.	2021-12-01	现行
GB 1552-1979	硅单晶电阻率直流四探针测量方法		1980-01-01	作废
GB/T 1552-1995	硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB 1553-1979	硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法		1980-01-01	作废
GB/T 1553-1997	硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法	国家技术监督局	1997-01-02	作废
GB/T 1553-2023	硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法	国家市场监督管理总局.	2024-03-01	现行
GB 1555-1979	硅单晶晶向光图测量方法		1980-01-01	作废
GB/T 1555-1997	半导体单晶晶向测定方法	国家技术监督局	1998-08-01	作废
GB/T 1555-2023	半导体单晶晶向测定方法	国家市场监督管理总局.	2024-03-01	现行
GB 1556-1979	硅单晶晶向X光衍射测量方法		1980-01-01	作废
GB/T 1557-1989	硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法	国家技术监督局	1990-02-01	作废
GB/T 1557-2006	硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法	质量监督检验检疫总局.	2006-11-01	作废
GB 1558-1983	测定硅晶体中代位碳含量的红外吸收方法		1984-09-01	作废
GB/T 1558-1997	硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法	国家技术监督局	1998-08-01	作废
GB/T 16595-1996	晶片通用网格规范	国家技术监督局	1997-04-01	作废
GB/T 16596-1996	确定晶片坐标系规范	国家技术监督局	1997-04-01	作废
GB/T 17103-1997	金属材料定量极图的测定	国家技术监督局	1998-05-01	作废
GB/T 17170-1997	非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法	国家技术监督局	1998-08-01	作废
GB/T 17473.2-1998	厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定	国家质量技术监督局	1999-03-01	作废
GB/T 17473.3-1998	厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定	国家质量技术监督局	1999-03-01	作废
GB/T 18036-2000	铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法	国家质量监督检验检疫.	2000-09-01	作废

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