|
| 英文名称： |
Microbeam analysis—Focused ion beam—Preparation of TEM specimens |
 中标分类： |
化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2025-03-28 |
| 实施日期： |
2025-10-01
|
| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
| 起草单位： |
北京科技大学、天津大学、南京大学、首钢集团有限公司、上海交通大学、哈尔滨工业大学 |
| 起草人： |
乔祎、徐宗伟、邓昱、孟杨、王英、王荣明、邹永纯、尤力、朱玉辰 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |