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微束分析 扫描电子显微术 术语
标准编号：
GB/T 23414-2026
标准状态：
即将实施
标准价格：
68.0
元
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标准简介
本文件界定了扫描电子显微术(SEM)在实际应用中使用的术语。包括基础术语和按不同技术内容分类的术语,也包括已经在ISO 23833中定义的术语。
本文件适用于所有有关SEM实际应用中的标准化文件。另外,本文件的某些术语,也适用于相关领域的文件[例如:电子探针显微分析(EPMA)、分析电子显微术(AEM)、能谱法(EDX)等]。
英文名称：
Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Vocabulary
标准状态：
即将实施
替代情况：
替代
GB/T 23414-2009
中标分类：
仪器、仪表
>>
光学仪器
>>
N33电子光学与其他物理光学仪器
ICS分类：
37.020;01.040.37
采标情况：
ISO 22493:2014
发布部门：
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：
2026-01-28
实施日期：
2026-08-01
即将实施
距离实施日期还有
104
天
提出单位：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
归口单位：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
起草单位：
中国科学院上海硅酸盐研究所
起草人：
李香庭、曾毅
页数：
36页
出版社：
中国标准出版社
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