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半导体光敏二极管结电容的测试方法

标准
标准编号:SJ 2214.5-1982 标准状态:已作废
标准价格:8.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
英文名称:  Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photodiodes
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  SJ/T 2214-2015代替
什么是中标分类? 中标分类:  通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理
发布日期:  1982-11-30
实施日期:  1983-07-01
作废日期:  2015-10-01
页数:  1页
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