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半导体发光器件测试方法 法向光强和半强度角的测试方法

标准
标准编号:SJ 2355.5-1983 标准状态:已作废
标准价格:8.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
英文名称:  Method of measurement for luminous intensity and half-intensity angle of light-emitting devices
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  被SJ/T 11394-2009代替
什么是中标分类? 中标分类:  能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.260光电子学、激光设备
发布日期:  1983-08-15
实施日期:  1984-07-01
作废日期:  2010-01-01
页数:  2页
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