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电子行业标准(SJ)
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半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法
标准编号：
SJ 2355.6-1983
标准状态：
已作废
标准价格：
8.0
元
客户评分：
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标准简介
英文名称：
Method of measurement for luminous flux of light-emitting devices
标准状态：
已作废
替代情况：
被SJ/T 11394-2009代替
中标分类：
能源、核技术
>>
能源、核技术综合
>>
F01技术管理
ICS分类：
电子学
>>
31.260光电子学、激光设备
发布日期：
1983-08-15
实施日期：
1984-07-01
作废日期：
2010-01-01
页数：
2页
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