由SAC/TC56全国无损检测标准化技术委员会秘书处组织召开、上海苏州美柯达探伤器材有限公司承办的计算机射线照相标准讨论会于2006年5月20～21日在上海市举行，共有23名代表参加了本次会议。

    本次会议的目的是对国家标准《无损检测 计算机射线照相系统的长期稳定性与鉴定方法》（征求意见稿）和《无损检测 计算机射线照相系统的分类》（征求意见稿）进行讨论和征求意见。

    全国无损检测标准化委员会金宇飞秘书长主持了本次会议。上海苏州美柯达探伤器材有限公司赵洪有总经理、全国无损检测标准化技术委员会蔡安定主任委员参加了会议并先后做了讲话，分别介绍了本标准立项的意义和标准化工作的重要性，同时对各位代表的到会表示欢迎。

    为了使与会代表对计算机射线照相（CR）国家标准所涉及的CR新技术有个感性认识，在标准讨论之前，会议特意安排了CR系统的操作演示和CR技术研讨。

    全国无损检测标准化技术委员会宓中玉副主任委员向大家介绍了两项国家标准的起草情况，并简要介绍了两项国家标准的主要内容。 会议随后对两项国家标准征求意见稿进行了热烈的讨论，并提出了如下主要意见和建议：

    1) 由于两项标准是采用ASTM标准的，所以在引用文件中大量出现和引用了ASTM标准，代表们希望在国家标准中，将ASTM标准全部改为对应的我国标准，如果有些ASTM标准没有对应的我国标准，希望起草人能提出较为简便的解决方案，使得标准便于实施。

    2) 标准中的IP和IPs的区别或含义应有所说明。

    3) 标准中某些图表中的英文应改为中文，有些图表上的文字应完整。

    4) 标准中的英制数据应去掉或改为SI制。

    5) 两标准第3章中出现的相同术语，其定义的编写最好相同。

    6) 在《无损检测 计算机射线照相系统的分类》（征求意见稿）中：

        * 6.1.1.3中“测定读出值”是指什么，最好有说明；

        * 6.1.1.7中公式（1）等式左边的英文符号，最好有中文说明；

        * 6.3.1.4中垂直和平行扫描测定的含义应予明确。

    7) 在《无损检测 计算机射线照相系统的长期稳定性与鉴定方法》（征求意见稿）中：

        * 5.1中的各种像质计，其规格最好与我国现有规格相对应；

        * 5.1中的像质计与图A.1中的像质计的名称最好一一对应；

        * 图1的内容与《无损检测 计算机射线照相系统的分类》的图3的内容相同，文字也最好相同。

    此外，代表们对标准中的一些用词和语句提出了不少意见和建议，希望起草人加以修改，尽量做到用词准确、规范和统一，语句更通顺，含义更明确，尽可能避免或减少可能的理解偏差甚至是误解。

    经本次会议的充分讨论，与会代表对标准征求意见稿中的技术内容和存在问题有了较深刻的了解和理解。会议希望标准起草人在充分考虑了本次讨论会的意见和建议之后，在标准征求意见稿的基础上再修改形成标准送审稿。

    在与会代表的坦诚与热情参与下，使本次会议达到了预定目的，感谢参加会议的各位代表！也感谢上海苏州美柯达探伤器材有限公司的大力支持！

                                                     全国无损检测标准化技术委员会秘书处
                                                                2006年5月21日