| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 19499-2004 |
表面化学分析-数据传输格式 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-12-01 |
现行 |
| GB/T 19502-2004 |
表面化学分析-辉光放电发射光谱方法通则 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-12-01 |
现行 |
| GB/T 19502-2023 |
表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
| GB/T 20175-2006 |
表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 |
国家标准化管理委员.
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2006-11-01 |
现行 |
| GB/T 20176-2006 |
表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度 |
国家标准化管理委员.
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2006-11-01 |
现行 |
| GB/T 21006-2007 |
表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-03-01 |
现行 |
| GB/T 22461-2008 |
表面化学分析 词汇 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-06-01 |
作废 |
| GB/T 22461.1-2023 |
表面化学分析 词汇 第1部分：通用术语及谱学术语 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 22571-2008 |
表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-10-01 |
作废 |
| GB/T 22571-2017 |
表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-01-01 |
现行 |
| GB/T 22572-2008 |
表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-10-01 |
现行 |
| GB/T 25185-2010 |
表面化学分析——X射线光电子能谱-荷电控制和荷电校正方法的报告 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-08-01 |
现行 |
| GB/T 25186-2010 |
表面化学分析——二次离子质谱-由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-08-01 |
现行 |
| GB/T 25187-2010 |
表面化学分析——俄歇电子能谱-选择仪器性能参数的表述 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-08-01 |
现行 |
| GB/T 28632-2012 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-01 |
现行 |
| GB/T 28633-2012 |
表面化学分析 X射线光电子能谱 强度标的重复性和一致性 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-01 |
现行 |
| GB/T 28892-2012 |
表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-06-01 |
现行 |
| GB/T 28892-2024 |
表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
| GB/T 28893-2012 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-06-01 |
现行 |
| GB/T 28893-2024 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 |
国家市场监督管理总局.
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2024-10-01 |
即将实施 |
| GB/T 28894-2012 |
表面化学分析 分析前样品的处理 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-06-01 |
现行 |
| GB/T 29556-2013 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-03-01 |
现行 |
| GB/T 29557-2013 |
表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-03-01 |
现行 |
| GB/T 29558-2013 |
表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-03-01 |
现行 |
| GB/T 29559-2013 |
表面化学分析 辉光放电原子发射光谱 锌和/或铝基合金镀层的分析 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-03-01 |
现行 |