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标准编号
标准名称
发布部门
实施日期
状态
GB/T 17472-2008
微电子技术用贵金属浆料规范
国家质量监督检验检疫.
2008-09-01
作废
GB/T 17472-2022
微电子技术用贵金属浆料规范
国家市场监督管理总局.
2023-05-01
现行
GB/T 17473.1-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
国家质量技术监督局
1999-03-01
作废
GB/T 17473.1-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
国家质量监督检验检疫.
2008-09-01
现行
GB/T 17473.2-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
国家质量技术监督局
1999-03-01
作废
GB/T 17473.2-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
国家质量监督检验检疫.
2008-09-01
现行
GB/T 17473.3-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
国家质量技术监督局
1999-03-01
作废
GB/T 17473.3-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
国家质量监督检验检疫.
2008-09-01
现行
GB/T 17473.4-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
国家质量技术监督局
1999-03-01
作废
GB/T 17473.4-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
国家质量监督检验检疫.
2008-09-01
现行
GB/T 17473.5-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
国家质量技术监督局
1999-03-01
作废
GB/T 17473.5-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
国家质量监督检验检疫.
2008-09-01
现行
GB/T 17473.6-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
国家质量技术监督局
1999-03-01
作废
GB/T 17473.6-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
国家质量监督检验检疫.
2008-09-01
现行
GB/T 17473.7-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验
国家质量技术监督局
1999-03-01
作废
GB/T 17473.7-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性测定
国家质量监督检验检疫.
2008-09-01
作废
GB/T 17473.7-2022
微电子技术用贵金属浆料测试方法 第7部分:可焊性、耐焊性测定
国家市场监督管理总局.
2022-10-01
现行
GB/T 20995-2007
输配电系统的电力电子技术 静止无功补偿装置用晶闸管阀的试验
国家质量监督检验检疫.
2008-02-01
作废
GB/T 24463.1-2009
交互式电子技术手册 第1部分:互操作性体系结构
国家质量监督检验检疫.
2009-12-01
现行
GB/T 24463.2-2009
交互式电子技术手册 第2部分:用户界面与功能要求
国家质量监督检验检疫.
2009-12-01
现行
GB/T 24463.3-2009
交互式电子技术手册 第3部分:公共源数据库要求
国家质量监督检验检疫.
2009-12-01
现行
GB/T 2900.33-1993
电工术语 电力电子技术
1994-09-01
作废
GB/T 2900.33-2004
电工术语 电力电子技术
国家质量监督检验检疫.
2004-12-01
现行
GB 6358-1986
电子技术用玻璃名词术语
1987-04-01
作废
GB 6359-1986
电子技术用玻璃的牌号命名方法
1987-04-01
作废
共有28条符合状态条件的标准,共2页
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