| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 37760-2019 |
电子电气产品中全氟辛酸和全氟辛烷磺酸的测定 超高效液相色谱串联质谱法 |
国家市场监督管理总局.
|
2020-01-01 |
现行 |
| GB/T 37765-2019 |
电子电气产品中石棉的定性检测方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2020-01-01 |
现行 |
| GB/T 37861-2019 |
电子电气产品中卤素含量的测定 离子色谱法 |
国家市场监督管理总局.
|
2020-03-01 |
现行 |
| GB/T 37876-2019 |
电子电气产品有害物质限制使用符合性评价通则 |
国家市场监督管理总局.
|
2020-03-01 |
现行 |
| GB/T 37876-2019E |
电子电气产品有害物质限制使用符合性评价通则（英文版） |
国家市场监督管理总局.
|
2020-03-01 |
现行 |
| GB/T 39560.1-2020 |
电子电气产品中某些物质的测定 第1部分：介绍和概述 |
国家市场监督管理总局.
|
2021-07-01 |
现行 |
| GB/T 39560.2-2020 |
电子电气产品中某些物质的测定 第2部分：拆解、拆分和机械制样 |
国家市场监督管理总局.
|
2021-07-01 |
现行 |
| GB/T 39560.301-2020 |
电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴 |
国家市场监督管理总局.
|
2021-07-01 |
现行 |
| GB/T 39560.4-2021 |
电子电气产品中某些物质的测定 第4部分：CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中的汞 |
国家市场监督管理总局.
|
2022-05-01 |
现行 |
| GB/T 39560.5-2021 |
电子电气产品中某些物质的测定 第5部分：AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物和电子件中镉、铅、铬以及金属中镉、铅的含量 |
国家市场监督管理总局.
|
2022-05-01 |
现行 |
| GB/T 39560.6-2020 |
电子电气产品中某些物质的测定 第6部分：气相色谱-质谱仪（GC-MS）测定聚合物中的多溴联苯和多溴二苯醚 |
国家市场监督管理总局.
|
2021-07-01 |
现行 |
| GB/T 39560.701-2020 |
电子电气产品中某些物质的测定 第7-1部分：六价铬 比色法测定金属上无色和有色防腐镀层中的六价铬[Cr(VI)] |
国家市场监督管理总局.
|
2021-07-01 |
现行 |
| GB/T 39560.702-2021 |
电子电气产品中某些物质的测定 第7-2部分：六价铬 比色法测定聚合物和电子件中的六价铬[Cr（VI）] |
国家市场监督管理总局.
|
2022-05-01 |
现行 |
| GB/T 39560.8-2021 |
电子电气产品中某些物质的测定 第8部分：气相色谱-质谱法（GC-MS）与配有热裂解/热脱附的气相色谱-质谱法（Py/TD-GC-MS）测定聚合物中的邻苯二甲酸酯 |
国家市场监督管理总局.
|
2022-05-01 |
现行 |
| GB/T 40030-2021 |
电子电气产品中中链氯化石蜡的检测方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2021-11-01 |
现行 |
| GB/T 40031-2021 |
电子电气产品中多氯化萘的测定 气相色谱-质谱法 |
国家市场监督管理总局.
|
2021-11-01 |
现行 |
| GB/T 40231-2021 |
电子电气产品中的限用物质 六价铬的测定方法 离子色谱法 |
国家市场监督管理总局.
|
2021-12-01 |
现行 |
| GB/T 41032-2021 |
宇航用元器件结构分析通用指南 |
国家市场监督管理总局.
|
2022-07-01 |
现行 |
| GB/T 4210-1984 |
电子设备用机电件名词术语 |
|
1985-01-01 |
作废 |
| GB 5076-1985 |
具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量 |
国家标准局
|
1985-12-01 |
现行 |
| GB/T 5077-1985 |
电容器和电阻器的最大外形尺寸 |
国家标准局
|
1985-01-02 |
作废 |
| GB 5078-1985 |
单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法 |
国家标准局
|
1985-12-01 |
现行 |
| GB 5095.1-1985 |
电子设备用机电件基本试验规程及测量方法 第一部分:总则 |
|
1985-11-01 |
作废 |
| GB/T 5095.9-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验 |
国家技术监督局
|
1998-10-01 |
现行 |
| GB 6591-1986 |
电子设备用电容器和电阻器名词术语 |
国家标准局
|
1987-04-01 |
作废 |
| SJ/T 11363-2006 |
电子信息产品中有毒有害物质的限量要求 |
信息产业
|
2006-11-06 |
现行 |
| SJ/T 11364-2006 |
电子信息产品污染控制标识要求 |
信息产业部
|
2006-11-06 |
作废 |
| SJ/T 11365-2006 |
电子信息产品中有毒有害物质的检测方法 |
信息产业部
|
2006-11-06 |
现行 |
| SJ 1276-1977 |
金属层和化学处理层质量检验技术要求 |
|
1978-03-01 |
废止 |
| SJ 1277-1977 |
金属镀层和化学处理层质量检验验收规则 |
|
1978-03-01 |
废止 |
| SJ 1278-1977 |
金属镀层和化学处理层外表的检验方法 |
|
1978-03-01 |
废止 |
| SJ 1279-1977 |
金属镀层硬度的检验方法 |
|
1978-03-01 |
废止 |
| SJ 1280-1977 |
金属镀层孔隙率的检验方法 |
|
1978-03-01 |
废止 |
| SJ 1281-1977 |
金属镀层和化学处理层厚度的检验方法 |
第四机械工业部
|
1978-03-01 |
废止 |
| SJ 1282-1977 |
金属镀层结合力的检验方法 |
|
1978-03-01 |
废止 |
| SJ 1285-1977 |
铝和铝合金氧化处理层电气绝缘性能的测试方法 |
|
1978-03-01 |
废止 |
| SJ 5020/6-2005 |
RN1052型膜固定电阻网络详细规范 |
|
2006-06-01 |
现行 |
| SJ 50920/5-2005 |
RN1042型膜固定电阻网络详细规范 |
|
2006-06-01 |
现行 |
| SJ 50920/6-2005 |
RN1052型膜固定电阻网络详细规范 |
|
2006-06-01 |
现行 |
| SJ 50920/7-2005 |
RN1062型膜固定电阻网络详细规范 |
|
2006-06-01 |
现行 |