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L10/34 电子元件
>> L10电子元件综合
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标准编号
标准名称
发布部门
实施日期
状态
GB/T 11250.1-1989
复合金属覆层厚度的测定 金相法
1990-01-01
作废
GB/T 11250.2-1989
复合金属覆层厚度的测定 Χ荧光法
1990-01-01
作废
GB 11250.3-1989
复合金属覆镍层厚度的测定-容量法
1990-01-01
作废
GB 11250.4-1989
复合金属覆层厚度的测定 重量法
1990-01-01
作废
GB 1772-1979
电子元器件失效率试验方法
信息产业部(电子)
1980-03-01
作废
GB/Z 21274-2007
电子电气产品中限用物质铅、汞、镉检测方法
国家质量监督检验检疫.
2008-06-01
现行
GB/Z 21275-2007
电子电气产品中限用物质六价铬检测方法
国家质量监督检验检疫.
2008-06-01
现行
GB/Z 21276-2007
电子电气产品中限用物质多溴联苯(PBBs)、多溴二苯醚(PBDEs)检测方法
国家质量监督检验检疫.
2008-06-01
现行
GB/Z 21277-2007
电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X射线荧光光谱法
国家质量监督检验检疫.
2008-06-01
现行
GB 2470-1981
电子设备用电阻器 电容器型号命名方法
1981-10-01
作废
GB 2471-1981
电子设备用电阻器的标称阻值系列和固定电容器的标称容量系列及其允许偏差系列
1981-10-01
作废
GB 2691-1981
电阻器 电容器标志内容与标志方法
1982-01-01
作废
GB 2775-1981
电子件轴端型式及尺寸
1982-05-01
作废
GB 2776-1981
电子件单孔安装轴套型式及尺寸
1982-05-01
作废
GB/T 4210-1984
电子设备用机电件名词术语
1985-01-01
作废
GB 5076-1985
具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量
国家标准局
1985-12-01
现行
GB/T 5077-1985
电容器和电阻器的最大外形尺寸
国家标准局
1985-01-02
作废
GB 5078-1985
单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法
国家标准局
1985-12-01
现行
GB 5095.1-1985
电子设备用机电件基本试验规程及测量方法 第一部分:总则
1985-11-01
作废
GB/T 5095.9-1997
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验
国家技术监督局
1998-10-01
现行
GB 6591-1986
电子设备用电容器和电阻器名词术语
国家标准局
1987-04-01
作废
SJ/T 11363-2006
电子信息产品中有毒有害物质的限量要求
信息产业
2006-11-06
现行
SJ/T 11364-2006
电子信息产品污染控制标识要求
信息产业部
2006-11-06
现行
SJ/T 11365-2006
电子信息产品中有毒有害物质的检测方法
信息产业部
2006-11-06
现行
SJ 1276-1977
金属层和化学处理层质量检验技术要求
1978-03-01
现行
SJ 1277-1977
金属镀层和化学处理层质量检验验收规则
1978-03-01
现行
SJ 1278-1977
金属镀层和化学处理层外表的检验方法
1978-03-01
现行
SJ 1279-1977
金属镀层硬度的检验方法
1978-03-01
现行
SJ 1280-1977
金属镀层孔隙率的检验方法
1978-03-01
现行
SJ 1281-1977
金属镀层和化学处理层厚度的检验方法
1978-03-01
现行
SJ 1282-1977
金属镀层结合力的检验方法
1978-03-01
现行
SJ 1285-1977
铝和铝合金氧化处理层电气绝缘性能的测试方法
1978-03-01
现行
SJ 5020/6-2005
RN1052型膜固定电阻网络详细规范
2006-06-01
现行
SJ 50920/5-2005
RN1042型膜固定电阻网络详细规范
2006-06-01
现行
SJ 50920/7-2005
RN1062型膜固定电阻网络详细规范
2006-06-01
现行
SJ 50920/8-2005
RN1072型膜固定电阻网络详细规范
2006-06-01
现行
SJ 50920/9-2005
RN1092型膜固定电阻网络详细规范
2006-06-01
现行
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现行
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