工标网 回首页
标准分类  最新标准  标准公告New! 标准动态  标准论坛
 高级查询
帮助 | 登录 | 注册
查标准上工标网 免费查询标准最新替代作废信息
 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> 中标分类 >> L电子元器件与信息技术 >> L50/54 光电子器件 >> L53半导体发光器件
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB 9492-1988  电子器件详细规范 FG341052、FG343053型半导体绿色发光二极管 1988-12-01 作废
 GB 9493-1988  电子器件详细规范 FG313052、FG314053、FG313054、FG314055型半导体红色发光二极管 1988-12-01 作废
 JB/T 10875-2008  发光二极管光学性能测试方法 2008-11-01 现行
 SJ 20644/1-2001  半导体光电子器件 GD3550Y型PIN光电二极管详细规范 信息产业部 2002-01-01 现行
 SJ 20644/2-2001  半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范 信息产业部 2002-01-01 现行
 SJ 2451-1984  磷化镓红色发光二极管 2002-05-01 作废
 SJ 2452-1984  磷化镓黄绿色发光二极管 2002-05-01 作废
 SJ 2658.1-1986  半导体红外发光二极管测试方法 总则 1986-10-01 现行
 SJ 2658.10-1986  半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法 1986-10-01 现行
 SJ 2658.11-1986  半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法 1986-10-01 现行
 SJ 2658.12-1986  半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法 1986-10-01 现行
 SJ 2658.13-1986  半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测量方法 1986-10-01 现行
 SJ 2658.2-1986  半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法 1986-10-01 现行
 SJ 2658.3-1986  半导休红外发光二极管测试方法 反向电压的测试方法 1986-10-01 现行
 SJ 2658.4-1986  半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法 1986-10-01 现行
 SJ 2658.5-1986  半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法 1986-10-01 现行
 SJ 2658.6-1986  半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率的测试方法 1986-10-01 现行
 SJ 2658.7-1986  半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法 1986-10-01 现行
 SJ 2658.8-1986  半导体红外发光二极管测试方法 法向辐射率的测试方法 1986-10-01 现行
 SJ 2658.9-1986  半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法 1986-10-01 现行
 SJ 2685-1986  圆形橙红色半导体发光二极管 1993-07-01 作废
 SJ 2686-1986  圆形黄色半导体发光二极管 1993-07-01 作废
 SJ 53930/1-2002  半导体光电子器件GR8813型红外发射二极管详细规范 2002-05-01 现行
 找到23条相关标准,共1页 现行 即将实施 作废 废止 
 
 相关标准分类 更多其他分类>> 
 L50 光电子器件组合[52] L51 激光器件[67] L52 红外器件[17] L53 半导体发光器件[23]
 L54 半导体光敏器件[5]      
 
购书咨询:0898-3137 2222
QQ:137806270 569872709 MSN/EMail:Csres@hotmail.com
版权所有2005-2007工业标准咨询网(工标网) 经营许可证编号:琼ICP备08000473
付款方式 | 业务合作 | 关于我们 | 合作伙伴 | 收藏本站