| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB 9492-1988 |
电子器件详细规范 FG341052、FG343053型半导体绿色发光二极管 |
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1988-12-01 |
作废 |
| GB 9493-1988 |
电子器件详细规范 FG313052、FG314053、FG313054、FG314055型半导体红色发光二极管 |
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1988-12-01 |
作废 |
| JB/T 10875-2008 |
发光二极管光学性能测试方法 |
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2008-11-01 |
现行 |
| SJ 20644/1-2001 |
半导体光电子器件 GD3550Y型PIN光电二极管详细规范 |
信息产业部
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2002-01-01 |
现行 |
| SJ 20644/2-2001 |
半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范 |
信息产业部
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2002-01-01 |
现行 |
| SJ 2451-1984 |
磷化镓红色发光二极管 |
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2002-05-01 |
作废 |
| SJ 2452-1984 |
磷化镓黄绿色发光二极管 |
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2002-05-01 |
作废 |
| SJ 2658.1-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 总则 |
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1986-10-01 |
现行 |
| SJ 2658.10-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法 |
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1986-10-01 |
现行 |
| SJ 2658.11-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法 |
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1986-10-01 |
现行 |
| SJ 2658.12-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法 |
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1986-10-01 |
现行 |
| SJ 2658.13-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测量方法 |
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1986-10-01 |
现行 |
| SJ 2658.2-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法 |
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1986-10-01 |
现行 |
| SJ 2658.3-1986 |
半导休红外发光二极管测试方法 反向电压的测试方法 |
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1986-10-01 |
现行 |
| SJ 2658.4-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法 |
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1986-10-01 |
现行 |
| SJ 2658.5-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法 |
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1986-10-01 |
现行 |
| SJ 2658.6-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率的测试方法 |
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1986-10-01 |
现行 |
| SJ 2658.7-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法 |
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1986-10-01 |
现行 |
| SJ 2658.8-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 法向辐射率的测试方法 |
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1986-10-01 |
现行 |
| SJ 2658.9-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法 |
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1986-10-01 |
现行 |
| SJ 2685-1986 |
圆形橙红色半导体发光二极管 |
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1993-07-01 |
作废 |
| SJ 2686-1986 |
圆形黄色半导体发光二极管 |
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1993-07-01 |
作废 |
| SJ 53930/1-2002 |
半导体光电子器件GR8813型红外发射二极管详细规范 |
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2002-05-01 |
现行 |