标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 18910.4-2024 |
液晶显示器件 第4部分:液晶显示模块和屏 基本额定值和特性 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-15 |
现行 |
GB/T 43590.502-2024 |
激光显示器件 第5-2部分:散斑对比度光学测量方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
GB/T 43789.11-2024 |
电子纸显示器件 第1-1 部分:术语 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
GB/T 18910.41-2024 |
液晶显示器件 第4-1部分:彩色矩阵液晶显示模块 基本额定值和特性 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
GB/T 15651.6-2023 |
半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
GB/T 18910.101-2021 |
液晶显示器件 第10-1部分:环境、耐久性和机械试验方法 机械 |
国家市场监督管理总局.
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2022-05-01 |
现行 |
GB/T 18910.102-2021 |
液晶显示器件 第10-2部分:环境、耐久性和机械试验方法 环境和耐久性 |
国家市场监督管理总局.
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2022-05-01 |
现行 |
GB/T 18910.201-2021 |
液晶显示器件 第20-1部分:目检 单色液晶显示屏 |
国家市场监督管理总局.
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2022-05-01 |
现行 |
GB/T 18910.202-2021 |
液晶显示器件 第20-2部分:目检 单色矩阵液晶显示模块 |
国家市场监督管理总局.
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2022-05-01 |
现行 |
GB/T 18910.203-2021 |
液晶显示器件 第20-3部分:目检 有源矩阵彩色液晶显示模块 |
国家市场监督管理总局.
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2022-05-01 |
现行 |
GB/T 18910.61-2021 |
液晶显示器件 第6-1部分:液晶显示器件测试方法 光电参数 |
国家市场监督管理总局.
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2022-05-01 |
现行 |
GB/T 20871.63-2021 |
有机发光二极管显示器件 第6-3部分:图像质量测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2022-06-01 |
现行 |
GB/T 32872-2016 |
空间科学照明用LED筛选规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-11-01 |
现行 |
GB/T 36356-2018 |
功率半导体发光二极管芯片技术规范 |
国家市场监督管理总局.
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2019-01-01 |
现行 |
GB/T 36357-2018 |
中功率半导体发光二极管芯片技术规范 |
国家市场监督管理总局.
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2019-01-01 |
现行 |
GB/T 36358-2018 |
半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 |
国家市场监督管理总局.
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2019-01-01 |
现行 |
GB/T 36359-2018 |
半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 |
国家市场监督管理总局.
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2019-01-01 |
现行 |
GB/T 36360-2018 |
半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范 |
国家市场监督管理总局.
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2019-01-01 |
现行 |
GB/T 39771.1-2021 |
半导体发光二极管光辐射安全 第1部分:要求与等级分类方法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
GB/T 39771.2-2021 |
半导体发光二极管光辐射安全 第2部分:测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
GB/T 43590.102-2023 |
激光显示器件 第1-2部分:术语及文字符号 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
GB 9492-1988 |
电子器件详细规范 FG341052、FG343053型半导体绿色发光二极管 |
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1988-12-01 |
作废 |
GB 9493-1988 |
电子器件详细规范 FG313052、FG314053、FG313054、FG314055型半导体红色发光二极管 |
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1988-12-01 |
作废 |
JB/T 10875-2008 |
发光二极管光学性能测试方法 |
国家发展和改革委员会
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2008-11-01 |
作废 |
SJ 20644/1-2001 |
半导体光电子器件 GD3550Y型PIN光电二极管详细规范 |
信息产业部
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2002-01-01 |
现行 |
SJ 20644/2-2001 |
半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范 |
信息产业部
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2002-01-01 |
现行 |
SJ 2451-1984 |
磷化镓红色发光二极管 |
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2002-05-01 |
作废 |
SJ 2452-1984 |
磷化镓黄绿色发光二极管 |
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2002-05-01 |
作废 |
SJ 2658.1-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 总则 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2658.10-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2658.11-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2658.12-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2658.13-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测量方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2658.2-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2658.3-1986 |
半导休红外发光二极管测试方法 反向电压的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2658.4-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2658.5-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2658.6-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2658.7-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2658.8-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 法向辐射率的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |