1 ICS国际标准分类[31.140压电器件和介质器件]-工标网
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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 11297.12-2012  光学晶体消光比的测量方法 国家质量监督检验检疫. 2013-06-01 现行
 GB 11309-1989  压电陶瓷材料性能测试方法 纵向压电应变常数d33的准静态测试 电子工业部 1990-01-01 现行
 GB 11310-1989  压电陶瓷材料性能测试方法 相对自由介电常数温度特性的测试 信息产业部(电子) 1990-01-01 现行
 GB 11311-1989  压电陶瓷材料性能测试方法 泊松地σE的测试 机械电子工业部 1990-01-01 现行
 GB 11312-1989  压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试方法 机械电子工业部 1990-01-01 现行
 GB/T 11320-1989  压电陶瓷材料性能测试方法低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试 信息产业部(电子) 1990-03-01 现行
 GB 11387-1989  压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法 国家技术监督局 1990-01-01 作废
 GB/T 12273.1-2017  有质量评定的石英晶体元件 第1部分:总规范 国家质量监督检验检疫. 2017-12-01 现行
 GB 12274-1990  石英晶体振荡器总规范(可供认证用) 信息产业部(电子) 1990-10-01 作废
 GB/T 12274.1-2012  有质量评定的石英晶体振荡器 第1部分:总规范 国家质量监督检验检疫. 2013-02-15 现行
 GB/T 12274.4-2021  有质量评定的石英晶体振荡器 第4部分:分规范 能力批准 国家市场监督管理总局. 2022-05-01 现行
 GB/T 12274.401-2023  有质量评定的石英晶体振荡器 第4-1部分:空白详细规范 能力批准 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB 12275-1990  石英晶体振荡器型号命名方法 国家技术监督局 1990-10-01 现行
 GB/T 12633-1990  压电晶体性能测试术语 信息产业部(电子) 1991-10-01 现行
 GB/T 12634-1990  压电晶体电弹常数测试方法 国家技术监督局 1991-10-01 现行
 GB/T 12859-1991  电子设备用压电陶瓷谐振器 总规范 (可供认证用) 信息产业部(电子) 1991-01-02 作废
 GB/T 12860-1991  电子设备用压电陶瓷谐振器 分规范 低频压电陶瓷谐振器 国家技术监督局 1991-01-02 作废
 GB/T 12861-1991  电子设备用压电陶瓷谐振器 空白详细规范 低频压电陶瓷谐振器 评定水平E (可供认证用) 信息产业部(电子) 1991-01-02 作废
 GB/T 12862-1991  电子设备用压电陶瓷谐振器 分规范 高频压电陶瓷谐振器 (可供认证用) 国家技术监督局 1991-01-02 作废
 GB/T 15020-1994  电子设备用石英晶体元件 空白详细规范 电阻焊石英晶体元件 评定水平 E 国家技术监督局 1994-01-02 作废
 GB/T 15156-1994  压电陶瓷换能元件总规范 国家技术监督局 1995-02-01 作废
 GB/T 15156-2015  压电陶瓷换能元件总规范 国家质量监督检验检疫. 2016-02-01 现行
 GB/T 15250-1994  压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法 国家技术监督局 1995-06-01 作废
 GB/T 16304-1996  压电陶瓷电场--应变特性测试方法 国家技术监督局 1997-01-01 作废
 GB/T 22317.1-2008  有质量评定的压电滤波器 第1部分:总规范 国家质量监督检验检疫. 2009-01-01 现行
 GB/T 22317.4-2023  有质量评定的压电滤波器 第4部分:分规范 能力批准 国家市场监督管理总局. 2024-01-01 现行
 GB/T 22317.401-2023  有质量评定的压电滤波器 第4-1部分:空白详细规范 能力批准 国家市场监督管理总局. 2024-01-01 现行
 GB/T 22318.1-2008  声表面波谐振器 第1-1部分:总则和标准值 国家质量监督检验检疫. 2009-01-01 作废
 GB/T 22318.1-2023  声表面波谐振器 第1部分:总规范 国家市场监督管理总局. 2024-01-01 现行
 GB/T 22318.2-2008  声表面波谐振器 第1-2部分:试验条件 国家质量监督检验检疫. 2009-01-01 作废
 GB/T 22318.2-2023  声表面波谐振器 第2部分:使用指南 国家市场监督管理总局. 2024-01-01 现行
 GB/T 22319.11-2018  石英晶体元件参数的测量 第11部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法 国家质量监督检验检疫. 2018-10-01 现行
 GB/T 22319.6-2023  石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 国家市场监督管理总局. 2024-01-01 现行
 GB/T 22319.7-2015  石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量 国家质量监督检验检疫. 2016-02-01 现行
 GB/T 22319.8-2008  石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具 国家质量监督检验检疫. 2009-01-01 现行
 GB/T 22319.9-2018  石英晶体元件参数的测量 第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量 国家质量监督检验检疫. 2018-10-01 现行
 GB/T 27700.1-2011  有质量评定的声表面波(SAW)滤波器 第1部分:总规范 国家质量监督检验检疫. 2012-05-01 作废
 GB/T 27700.1-2023  有质量评定的声表面波滤波器 第1部分:总规范 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 27700.2-2011  有质量评定的声表面波(SAW)滤波器 第2部分:使用指南 国家质量监督检验检疫. 2012-05-01 现行
 GB/T 30118-2013  声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法 国家质量监督检验检疫. 2014-05-15 现行
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