ICS国际标准分类[31.260光电子学、激光设备]-工标网

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标准编号	标准名称	发布部门	实施日期	状态
SJ 2354.11-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.12-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.13-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.14-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.2-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.3-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管暗电流的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.4-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管正向压降的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.5-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管电容的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.6-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管响应度的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.7-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.8-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.9-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2355.1-1983	半导体发光器件测试方法总则		1984-07-01	作废
SJ 2355.2-1983	半导体发光器件测试方法正向压降的测试方法		1984-05-01	作废
SJ 2355.3-1983	半导体发光器件测试方法反向电流的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2355.4-1983	半导体发光器件测试方法结电容的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2355.5-1983	半导体发光器件测试方法法向光强和半强度角的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2355.6-1983	半导体发光器件测试方法光通量的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2355.7-1983	半导体发光器件测试方法发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法		1984-03-01	作废
T/QGCML 2017-2023	防撞击手持式三维激光扫描仪	全国城市工业品贸易中.	2023-11-23	现行
T/QGCML 2219-2023	TO56激光器技术规范	全国城市工业品贸易中.	2023-12-02	现行
T/QGCML 2336-2023	车载激光雷达种子源技术规范	全国城市工业品贸易中.	2023-12-09	现行
YY/T 0757-2009	人体安全使用激光束的指南	国家食品药品监督管理.	2010-12-01	现行

找到183条相关标准，共5页 [1] [2] [3] [4] 5

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31.080 半导体器件[94]	31.100 电子管[89]	31.120 电子显示器件[70]
31.140 压电器件和介质器件[27]	31.160 滤波器[11]	31.180 印制电路和印制电路板[73]
31.190 电子器件组件[0]	31.200 集成电路、微电子学[129]	31.220 电子电信设备用机电零部件[71]
31.240 电子设备用机械构件[52]	31.260 光电子学、激光设备[101]

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