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半导体分立器件机械和气候试验方法   标准编号：GB 4937-1985  标准名称：半导体分立器件机械和气候试验方法 标准定价：￥19.0元    标准状态：  已作废 替代情况：  被GB/T 4937-1995代替 中标分类：  电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 采标情况：  IEC 147-5-1976 MOD 实施日期：  1985-11-01 页数：  22页 相关搜索： 半导体器件 机械试验  [ 评论 ][ 关闭 ] 半导体分立器件综合相关标准 第1页 第2页   GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则  GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压  GB 4938-1985 半导体分立器件接收和可靠性  GB 6801-1986 半导体器件基准测试方法  SJ 1267-1977 半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法  SJ 1400-1978 半导体器件参数符号  SJ 1400-78 半导体器件参数符号  SJ 1602-1980 硅双基极二极管测试方法总则  SJ 1603-1980 硅双基极二极管基极间电阻的测试方法  SJ 1604-1980 硅双基极二极管发射极与第一基极间反向电流的测试方法  免费下载半导体分立器件综合标准相关目录  发表新主题 标 题 内 容   用户：   口令：   匿名发表   0898-3137 2222 569872709 137806270 0898-3159 5808 Csres@hotmail.com 温馨提示：付款前请先与本网客服确认标准的实效和库存。 相关供应商 搜索 中搜索： GB 4937-1985 半导体分立器件机械和气候试验方法 中搜索： GB 4937-1985 半导体分立器件机械和气候试验方法 中搜索： GB 4937-1985 半导体分立器件机械和气候试验方法 中搜索： GB 4937-1985 半导体分立器件机械和气候试验方法 中搜索： GB 4937-1985 半导体分立器件机械和气候试验方法

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