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半导体器件机械和气候试验方法

国家标准
标准编号:GB/T 4937-1995 标准状态:已作废
标准价格:17.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件,可以要求补充的试验方法。
英文名称:  Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  替代GB 4937-1986;被GB/T 4937.1-2006;GB/T 4937.2-2006代替
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.080半导体器件
什么是采标情况? 采标情况:  idt IEC 749:1984
发布部门:  国家技术监督局
发布日期:  1995-01-02
实施日期:  1996-08-01
作废日期:  2007-02-01
首发日期:  1985-02-06
复审日期:  2004-10-14
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门:  信息产业部(电子)
起草单位:  上海市电子仪表计量测试所
页数:  平装16开, 页数:35, 字数:65千字
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  1996-08-01
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