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标准编号：GB 4938-1985  |
| 标准名称：半导体分立器件接收和可靠性 |
| 标准定价：￥10.0元 |
 
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| 简介：
本标准列出了适用于半导体分立器件的电耐久性试验方法，可以从中选择使用。 |
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| 英文名称： |
Acceptance and reliability for discrete semiconductor devices |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
作废; |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
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| UDC分类： |
621.382.2/.3.004.12;62-192 |
| 采标情况： |
IEC 147-4-1976 IDT |
| 发布部门： |
国家标准局 |
| 发布日期： |
1985-02-06 |
| 实施日期： |
1985-11-01
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| 起草单位： |
电子部第十三研究所 |
| 页数： |
8页 |
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0898-3137 2222 |
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0898-3159 5808 |
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