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| 英文名称: |
Methods for chemical analysis of silicon metal - Part 4:Determination of elements content Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method |
| 标准状态: |
已作废 |
替代情况: |
被GB/T 14849.4-2014代替 |
中标分类: |
冶金>>金属化学分析方法>>H17半金属及半导体材料分析方法 |
ICS分类: |
冶金>>有色金属>>77.120.10铝和铝合金 |
| 发布部门: |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期: |
2008-06-09 |
| 实施日期: |
2008-12-01
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| 作废日期: |
2015-08-01
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| 首发日期: |
2008-06-09 |
| 提出单位: |
中国有色金属工业协会 |
归口单位: |
全国有色金属标准化技术委员会 |
| 主管部门: |
中国有色金属工业协会 |
| 起草单位: |
中国铝业股份有限公司郑州研究院、中国有色金属工业标准计量质量研究所等 |
| 起草人: |
李跃平、石磊、张树朝、张洁、吴豫强、周兵等 |
| 计划单号: |
20073440-T-610 |
| 页数: |
8页 |
| 出版社: |
中国标准出版社 |
| 书号: |
155066·1-32554 |
| 出版日期: |
2008-12-01 |
| 标准前页: |
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