标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 28893-2024 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 |
国家市场监督管理总局.
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2024-10-01 |
即将实施 |
GB/T 19500-2004 |
X-射线光电子能谱分析方法通则 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-12-01 |
现行 |
GB/T 21006-2007 |
表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-03-01 |
现行 |
GB/T 22571-2008 |
表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-10-01 |
作废 |
GB/T 22571-2017 |
表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-01-01 |
现行 |
GB/T 25184-2010 |
X射线光电子能谱仪检定方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-08-01 |
现行 |
GB/T 25185-2010 |
表面化学分析——X射线光电子能谱-荷电控制和荷电校正方法的报告 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-08-01 |
现行 |
GB/T 25187-2010 |
表面化学分析——俄歇电子能谱-选择仪器性能参数的表述 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-08-01 |
现行 |
GB/T 25188-2010 |
硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-08-01 |
现行 |
GB/T 26533-2011 |
俄歇电子能谱分析方法通则 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-12-01 |
现行 |
GB/T 28632-2012 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-01 |
现行 |
GB/T 28633-2012 |
表面化学分析 X射线光电子能谱 强度标的重复性和一致性 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-01 |
现行 |
GB/T 28892-2012 |
表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-06-01 |
现行 |
GB/T 28892-2024 |
表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
GB/T 28893-2012 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-06-01 |
现行 |
GB/T 29556-2013 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-03-01 |
现行 |
GB/T 29558-2013 |
表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-03-01 |
现行 |
GB/T 29731-2013 |
表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-06-01 |
现行 |
GB/T 29732-2021 |
表面化学分析 中等分辨俄歇电子能谱仪 元素分析用能量标校准 |
国家市场监督管理总局.
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2022-07-01 |
现行 |
GB/T 30702-2014 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-12-01 |
现行 |
GB/T 30704-2014 |
表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-12-01 |
现行 |
GB/T 31470-2015 |
俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 31472-2015 |
X光电子能谱中荷电控制和荷电基准技术标准指南 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/Z 32490-2016 |
表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-01-01 |
现行 |
GB/Z 32494-2016 |
表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-01-01 |
现行 |