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共找到79条相关标准,现行44,作废33,废止1,未实施1,耗时0.125秒
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标准编号
标准名称
发布部门
实施日期
状态
DB31/ 792-2014
硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额
上海市质量技术监督局
2014-08-01
作废
DB31/ 792-2020
硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额
上海市市场监督管理局
2020-06-01
现行
GB/T 10067.417-2023
电热和电磁处理装置基本技术条件 第417部分:碳化硅单晶生长装置
国家市场监督管理总局.
2023-12-01
现行
GB 12962-1991
硅单晶
1992-03-01
作废
GB/T 12962-1996
硅单晶
国家技术监督局
1997-04-01
作废
GB/T 12962-2005
硅单晶
国家质量监督检验检疫.
2006-04-01
作废
GB/T 12962-2015
硅单晶
国家质量监督检验检疫.
2017-01-01
现行
GB 12964-1991
硅单晶抛光片
1992-03-01
作废
GB/T 12964-1996
硅单晶抛光片
1997-04-01
作废
GB/T 12964-2003
硅单晶抛光片
国家质量监督检验检疫.
2004-01-01
作废
GB/T 12964-2018
硅单晶抛光片
国家市场监督管理总局.
2019-06-01
现行
GB 12965-1991
硅单晶切割片和研磨片
1992-01-01
作废
GB/T 12965-1996
硅单晶切割片和研磨片
国家技术监督局
1997-04-01
作废
GB/T 12965-2005
硅单晶切割片和研磨片
国家质量监督检验检疫.
2006-04-01
作废
GB/T 12965-2018
硅单晶切割片和研磨片
国家市场监督管理总局.
2019-06-01
现行
GB/T 13389-1992
掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
国家技术监督局
1992-10-01
作废
GB/T 13389-2014
掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
国家质量监督检验检疫.
2015-09-01
现行
GB 1550-1979
硅单晶导电类型测定方法
1980-01-01
作废
GB 1551-1979
硅单晶电阻率直流二探针测量方法
1980-01-01
作废
GB/T 1551-2009
硅单晶电阻率测定方法
国家质量监督检验检疫.
2010-06-01
作废
GB/T 1551-2021
硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
国家市场监督管理总局.
2021-12-01
现行
GB 1552-1979
硅单晶电阻率直流四探针测量方法
1980-01-01
作废
GB 1553-1979
硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法
1980-01-01
作废
GB 1554-1979
硅单晶(111)晶面位错蚀坑腐蚀显示测量方法
1980-01-01
作废
GB 1555-1979
硅单晶晶向光图测量方法
1980-01-01
作废
共有79条符合状态条件的标准,共4页
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现行
即将实施
作废
废止
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