| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 35008-2018 |
串行NOR型快闪存储器接口规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 35009-2018 |
串行NAND型快闪存储器接口规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 36474-2018 |
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2019-01-01 |
现行 |
| GB/T 36477-2018 |
半导体集成电路 快闪存储器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2019-01-01 |
现行 |
| GB 3834-1983 |
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 |
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1984-07-01 |
作废 |
| GB/T 3835-1983 |
半导体集成电路接口电路系列和品种 |
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1984-07-01 |
作废 |
| GB/T 39842-2021 |
集成电路（IC）卡封装框架 |
国家市场监督管理总局.
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2021-07-01 |
现行 |
| GB/T 42744-2023 |
微波电路 电调衰减器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 42835-2023 |
半导体集成电路 片上系统（SoC） |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42836-2023 |
微波半导体集成电路 混频器 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42837-2023 |
微波半导体集成电路 放大器 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42838-2023 |
半导体集成电路 霍尔电路测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42839-2023 |
半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42848-2023 |
半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42968.1-2023 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42968.2-2024 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-10-26 |
现行 |
| GB/T 42968.3-2025 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法 |
国家市场监督管理总局.
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2025-12-02 |
现行 |
| GB/T 42968.4-2024 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-12-31 |
现行 |
| GB/T 42968.5-2025 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第5部分：工作台法拉第笼法 |
国家市场监督管理总局.
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2025-12-02 |
现行 |
| GB/T 42968.8-2023 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42968.9-2025 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法 |
国家市场监督管理总局.
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2025-12-02 |
现行 |
| GB/T 42969-2023 |
元器件位移损伤试验方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42970-2023 |
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42973-2023 |
半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42974-2023 |
半导体集成电路 快闪存储器（FLASH） |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42975-2023 |
半导体集成电路 驱动器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43034.2-2024 |
集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-10-26 |
现行 |
| GB/T 43034.3-2023 |
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43452-2023 |
模拟/混合信号知识产权（IP）核交付项要求 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43453-2023 |
模拟/混合信号知识产权（IP）核文档结构指南 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43454-2023 |
集成电路知识产权（IP）核设计要求 |
国家市场监督管理总局.
|
2023-12-28 |
现行 |
| GB/T 43455-2023 |
模拟/混合信号知识产权（IP）核质量评测 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43536.2-2023 |
三维集成电路 第2部分：微间距叠层芯片的校准要求 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB 4376-1984 |
半导体集成电路稳压器系列和品种 |
|
1985-02-01 |
作废 |
| GB/T 4376-1994 |
半导体集成电路电压调整器系列和品种 |
国家技术监督局
|
1995-04-01 |
现行 |
| GB 4377-1984 |
半导体集成电路 稳压器测试方法的基本原理 |
|
1985-02-01 |
作废 |
| GB/T 4377-1996 |
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
|
1997-01-01 |
作废 |
| GB/T 4377-2018 |
半导体集成电路 电压调整器测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 4378-1984 |
半导体集成电路 cμ6800/cμ6809微处理机电路系列和品种 |
|
1985-02-01 |
作废 |
| GB/T 4379-1984 |
半导体集成电路 cμ8080/cμ8085微处理机电路系列和品种 |
|
1985-02-01 |
作废 |