| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 44635-2024 |
静电放电敏感度试验 传输线脉冲 器件级 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-09-29 |
现行 |
| GB/T 44777-2024 |
知识产权（IP）核保护指南 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-10-26 |
现行 |
| GB/T 44795-2024 |
系统级封装（SiP）一体化基板通用要求 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-10-26 |
现行 |
| GB/T 44798-2024 |
复杂集成电路设计保证指南 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-10-26 |
现行 |
| GB/T 44801-2024 |
系统级封装（SiP）术语 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-10-26 |
现行 |
| GB/T 44806.1-2024 |
集成电路 收发器的EMC评估 第1部分：通用条件和定义 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-10-26 |
现行 |
| GB/T 44807.1-2024 |
集成电路电磁兼容建模 第1部分：通用建模框架 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-10-26 |
现行 |
| GB/T 44807.2-2025 |
集成电路电磁兼容建模 第2部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 传导发射建模（ICEM-CE） |
国家市场监督管理总局.
|
2026-04-01 |
现行 |
| GB/T 44807.3-2025 |
集成电路电磁兼容建模 第3部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 辐射发射建模（ICEM-RE） |
国家市场监督管理总局.
|
2026-07-01 |
即将实施 |
| GB/T 44924-2024 |
半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2025-04-01 |
现行 |
| GB/T 44937.1-2025 |
集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-07-01 |
即将实施 |
| GB/T 44937.2-2025 |
集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-07-01 |
即将实施 |
| GB/T 44937.3-2025 |
集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-07-01 |
即将实施 |
| GB/T 44937.4-2024 |
集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-12-31 |
现行 |
| GB/T 44937.5-2025 |
集成电路 电磁发射测量 第5部分：传导发射测量 工作台法拉第笼法 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-07-01 |
即将实施 |
| GB/T 44937.6-2025 |
集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-07-01 |
即将实施 |
| GB/T 44937.8-2025 |
集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-07-01 |
即将实施 |
| GB 4590-1984 |
半导体集成电路机械和气候试验方法 |
|
1985-05-01 |
作废 |
| GB/T 46894-2025 |
车辆集成电路电磁兼容试验通用规范 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-07-01 |
即将实施 |
| GB 4719-1984 |
半导体集成电路新产品定型鉴定的程序规则 |
|
1985-06-01 |
作废 |
| GB 4855-1984 |
半导体集成电路线性放大器系列和品种 |
国家标准局
|
1985-10-01 |
作废 |
| GB 5228-1985 |
半导体集成电路音响电路系列和品种 |
|
1986-04-01 |
作废 |
| GB 5965-1986 |
半导体集成电路双极型门电路空白详细规范 |
|
1986-09-01 |
作废 |
| GB/T 5965-2000 |
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路（不包括自由逻辑阵列）空白详细规范 |
国家质量技术监督局
|
2000-07-01 |
现行 |
| GB 6304-1986 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CD7176CP伴音中频放大电路(可供认证用) |
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB 6305-1986 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CD7609CP行、场扫描电路(可供认证用) |
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB 6647-1986 |
半导体集成电路4位微型机电路系列和品种 |
国家标准局
|
1987-08-01 |
作废 |
| GB/T 6648-1986 |
半导体集成电路静态读/写存储器空白详细规范(可供认证用) |
国家标准局
|
1987-08-01 |
现行 |
| GB 6649-1986 |
半导体集成电路外壳总规范 |
国家标准局
|
1987-08-01 |
作废 |
| GB 6793-1986 |
半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理 |
|
1987-07-01 |
作废 |
| GB 6794-1986 |
半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理 |
|
1987-07-01 |
作废 |
| GB 6795-1986 |
半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理 |
|
1987-07-01 |
作废 |
| GB 6796-1986 |
半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理 |
|
1987-07-01 |
作废 |
| GB 6797-1986 |
半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 |
|
1987-07-01 |
作废 |
| GB 6798-1986 |
半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理 |
|
1987-07-01 |
作废 |
| GB/T 6798-1996 |
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
|
1997-01-01 |
现行 |
| GB 6799-1986 |
半导体集成接口电路显示驱动器测试方法的基本原理 |
|
1987-07-01 |
作废 |
| GB 6800-1986 |
半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理 |
国家标准局
|
1987-07-01 |
作废 |
| GB/T 6811-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 数字/模拟转换器和模拟/数字转换器的品种 |
|
1987-08-01 |
作废 |
| GB/T 6812-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种 |
信息产业部（电子）
|
1987-08-01 |
作废 |