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集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义

国家标准
标准编号:GB/T 44937.1-2025 标准状态:即将实施
标准价格:56.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件提供了集成电路的传导和辐射电磁发射测量的通用信息和定义,同时也给出了试验条件、试验设备、试验布置、试验程序和试验报告内容的描述。附录A中给出了试验方法的对照表,以帮助选择适当的测量方法。
本文件的目的是描述通用条件,建立一个统一的测试环境以定量测量来自集成电路(IC)的射频(RF)骚扰。本文件描述了影响试验结果的关键参数。若与本文件的描述有所偏离,需在试验报告中明确注明。测量结果能用于产品比较或其他用途。
通过对受控条件下IC产生的辐射射频骚扰或传导射频发射的电压和电流的测量,获得IC应用过程中可能产生的射频骚扰信息。
IEC 61967的每个部分规定了所适用的频率范围。
英文名称:  Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 1:General conditions and definitions
标准状态:  即将实施
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
什么是采标情况? 采标情况:  IEC 61967-1:2018
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2025-12-31
实施日期:  2026-07-01  即将实施 距离实施日期还有73
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
主管部门:  全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
起草单位:  中国电子技术标准化研究院、南京容向测试设备有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、天津先进技术研究院、广州致远电子股份有限公司、中山大学、工业和信息化部电子第五研究所、中国家用电器研究院等
起草人:  崔强、付君、李齐、邢立文、张红丽、朱赛、方文啸、叶畅、徐蛟、原义栋、张艳艳、李焕然、康志能、陈勇志、邵鄂、李晓智、孙莉、王紫任、刘佳、刘璟轩、黄利、周沛、杜永亿、谢萱萱、王飞、郑云、尹向阳、冯鸣、向晓东、方海峰、黄发刚
页数:  28页
出版社:  中国标准出版社
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